吳英婷 付文卓 趙淑銳 鄭美青 薛 冰
(首都醫(yī)科大學(xué)醫(yī)學(xué)實驗與測試中心,北京 100069)
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀的安裝及常見故障排除
吳英婷 付文卓 趙淑銳 鄭美青 薛 冰
(首都醫(yī)科大學(xué)醫(yī)學(xué)實驗與測試中心,北京 100069)
介紹了Agilent ICP-OES 710光譜儀場地安裝條件,實驗過程中點火失敗,靈敏度下降等常見故障的分析及解決方法,總結(jié)了電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀日常維護及注意事項。
電感耦合等離子體 常見故障
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀因具有靈敏度高,線性范圍寬,多元素同時快速檢測等[1]優(yōu)點,被廣泛應(yīng)用于地礦、環(huán)境保護、食品檢測和醫(yī)藥等領(lǐng)域[2]。本文以Agilent ICP-OES 710光譜儀為例,討論總結(jié)其安裝條件準(zhǔn)備,常見故障排除及日常維護。
電感耦合等離子體發(fā)射發(fā)射光譜屬于原子發(fā)射光譜,電感耦合等離子體(ICP)是一種提供電感磁場,高溫環(huán)境,使待測樣品原子化的光源。ICP光源由高頻發(fā)射器和炬管兩部分組成。目前高頻發(fā)射器震蕩頻率為27.12MHz或40.68MHz,高頻功率高于1.4kW[3]。炬管是由3個同心石英管組成,有3處進氣管,分別是進入冷卻氣(等離子體氣),輔助氣和載氣,均為氬氣。點火即形成ICP焰炬,高頻電源通過感應(yīng)線圈形成高頻電磁場,使氬氣局部電離,產(chǎn)生感應(yīng)電流,感應(yīng)電流加熱氣體形成ICP焰炬。載氣帶著氣溶膠的待測樣品進入炬管經(jīng)行測定[4]。
2.1 電源
電源要求單相交流電220V,50或60Hz,額定功率5.1kVA,單獨空氣開關(guān),30A單相插座。最好單獨供電,從配電室引出獨立電源線,避免與其他大型負(fù)電荷(如其他大型儀器,電梯,空調(diào)等)的電源公用,防止對儀器產(chǎn)生干擾。
循環(huán)水系統(tǒng)電源要求單項交流電220 V,50 Hz。電源插座位置應(yīng)該在儀器電源線長度范圍內(nèi),不允許采用接線板延長供電[5]。
2.2 通風(fēng)系統(tǒng)
等離子體工作時的溫度大約為100000K,測試分析樣品多為稀硝酸為溶劑,具有強腐蝕性。電感等離子發(fā)射光譜儀必須置于良好的通風(fēng)系統(tǒng)中,將氣體排出室外。通風(fēng)系統(tǒng)要求最小排風(fēng)量6 m3/min .通風(fēng)管道需采用耐腐蝕,耐高溫,防火材料。其位置應(yīng)遠(yuǎn)離消防報警器或其他熱傳感器。通風(fēng)系統(tǒng)對儀器非常重要,若排風(fēng)量達(dá)不到要求, 儀器則不能正常工作。
2.3 氣源
一般采用氣態(tài)高純氬氣或者液態(tài)氬氣,純度為99.999%,壓力范圍410~690Kpa,流量0.7~32L/min。若使用氣體鋼瓶,必須將鋼瓶豎直放置,并固定。液氬一般使用杜瓦罐,溫度很低,操作時注意防護,防止皮膚直接接觸液氬而灼傷。
2.4 其他要求
安裝儀器實驗室內(nèi)無振動,無腐蝕性試劑。溫度控制在20~25℃,空氣中懸浮顆粒小于35000000/m3。值得注意的是,由于電感耦合等離子發(fā)射光譜儀實驗測定的樣品前對待測樣品一般使用硝酸,雙氧水或其他酸,進行消解等,所以腐蝕性的試劑和樣品前處理工作要與放置儀器的實驗室分離開。
3.1 點火失敗
ICP-OES的最常見故障是點火失敗,即系統(tǒng)不能正常點燃等離子體,常見故障及解決方法如下。
3.1.1 氬氣不純或壓力低
解決方法:(1)更換新氬氣,本實驗室采用氬氣鋼瓶供氣,氬氣純度為99.999%,為了保證氬氣的純度,每一次實驗使用氬氣鋼瓶時,注意觀察氬氣鋼瓶的壓力表,不能將氬氣全部用盡時再更換氬氣瓶,空氬氣瓶再二次灌裝時容易混入空氣,影響氬氣純度[6]。(2)更換氬氣在線過濾器,在儀器背面安裝有氬氣過濾器,使用時間一年或波長矯正不通過時需更換。氬氣不純或壓力低是導(dǎo)致點火失敗的最常見的原因。
3.1.2 樣品不能正常流入霧化器
解決方法:(1)管路堵塞:分段排查堵塞的管路,更換新管或?qū)⒍氯糠旨舻粼龠B接;(2)噴針堵塞:清洗噴針,將粗端連接上注射器,單向拉注射器推桿,使稀硝酸由細(xì)端拉入粗端,反復(fù)多次,切忌不能推注射器或超聲波清洗,易損壞噴針尖端。(3)蠕動泵管路連接錯誤,注意蠕動泵進樣管和廢液管的流動方向,點火前先將蠕動泵開啟,使進樣管進一段空氣,觀察空氣柱在管路中流動情況,方向為進樣管-噴針-霧化器-廢液管。
3.1.3 炬管污染
長時間使用儀器,通過視窗可觀察炬管上有污染物,呈不透明狀。解決方法:更換干凈的炬管,用王水(HCl∶HNO3=3∶1)浸泡炬管48h以上,先用大量自來水沖洗,蒸餾水沖洗,蒸餾水浸泡過夜,再用去離子水沖洗,烘箱烘干。注意炬管上保證無水才能安裝到儀器上,否則點火瞬間炬管受高溫影響易融化變形。
3.1.4 冷風(fēng)流量低
儀器頂部及后部有排風(fēng)系統(tǒng),覆有過濾棉,過濾空氣中的顆粒物。由于高溫的實驗條件下,有很多碳化顆粒,一部分未被排風(fēng)系統(tǒng)清除,易沉積在儀器內(nèi)部。長期積累,會致高純氬氣冷風(fēng)流量低,點火失敗。解決方法:⑴在散熱口處平鋪真空棉防止碳化顆粒和其他雜質(zhì)落入儀器內(nèi)部,真空棉變黑即要清洗更換干凈的真空棉。⑵拆卸儀器外殼,清理風(fēng)機扇葉,塑膠彎頭,導(dǎo)風(fēng)鋁桶等內(nèi)部灰塵。注意需拔掉導(dǎo)風(fēng)鋁桶上的傳輸膠管在清潔,不要碰到流量傳感器。
3.2 靈敏度降低
實驗中,造成背景噪音大,靈敏度降低的原因主要是:霧化室,霧化器污染:清洗霧化室,霧化器;管路堵塞:檢查蠕動泵管是否有樣品沉淀,可更換新管;從霧化室到炬管之間的進樣連接管是否有樣品沉淀,不易觀察,拆卸可清洗或更換;泵速低:適當(dāng)增大蠕動泵轉(zhuǎn)速,使進樣平穩(wěn);空氣泄漏:檢查霧化室O型密封圈,易老化,可更換。冷錐污染,炬管污染:清洗冷錐,炬管。條件優(yōu)化:進行波長矯正,檢查峰是否都在尋峰窗口之內(nèi),峰形是否平滑[7]。
定時清洗冷錐、炬管、霧化室、霧化器,安裝炬管時,注意炬管最內(nèi)層石英管外沿與線圈距離為5mm,不能過近,防止炬管變形。檢查蠕動泵管是否老化或堵塞,及時更換。
定時清洗排風(fēng)口過濾棉,當(dāng)出現(xiàn)冷風(fēng)流量低時,需拆開儀器外殼,清洗內(nèi)部灰塵。每年更換循環(huán)水系統(tǒng)的水,使用蒸餾水作為循環(huán)水[8]。檢測廢液瓶廢液是否已滿,及時更換空瓶。
電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀作為常規(guī)的分析方法而廣泛應(yīng)用。一般樣品量大,前處理復(fù)雜,所以規(guī)范化操作尤為重要,建議專人負(fù)責(zé)管理及日常維護。定時清洗,及時更換易損配件。遇到故障時,冷靜分析總結(jié),避免人為操作錯誤帶來的儀器故障。延長儀器正常使用壽命,保證靈敏度符合要求。
[1] 王曉林. ICP-AES分析技術(shù)的研究進展.化工管理, 2014,(32):139.
[2] 阮桂色. 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜ICP-AES技術(shù)的應(yīng)用進展. 中國無機分析化學(xué), 2011,1(4):15-18.
[3] 辛仁軒,等.離子體發(fā)射光譜分析(第2版).北京:化學(xué)工業(yè)出版社,2010:46-61.
[4] 張寒琦.儀器分析.2版.北京:高等教育出版社,2013:24-26.
[5] Agilent 700-ES系列電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀安裝條件準(zhǔn)備手冊
[6] 翟淑珍.ICP發(fā)射光譜儀等離子體點火故障及檢查方法. 氯堿工業(yè),2005,(11):35-36.
[7] 趙慶令, 李清彩. Thermo 6300型電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀常見故障及排除方法. 巖礦測試,2010,29(2): 196-198.
[8] 王江洪.ICP-OES 在分析有機樣品中金屬元素常見故障排除及注意事項. 現(xiàn)代科學(xué)儀器,2014,(4):165-169.
Installation and troubleshooting of inductively coupled plasma atomic emission spectrometer.
Wu Yingting, Fu Wenzhuo, Zhao Shurui, Zheng Meiqing, Xue Bing
(CapitalMedicalUniversityCoreFacilitiesCenter,Beijing100069,China)
This paper describes the installation conditions and troubleshooting experiences of Agilent ICP-OES 710 inductively coupled plasma atomic emission spectrometer.
inductively coupled plasma; common faults
吳英婷,女,1983年出生,碩士,主管技師,從事藥學(xué)分析大型設(shè)備的使用和維護工作。
10.3936/j.issn.1001-232x.2015.04.023
2014-12-11