X射線底片常見偽缺陷及其預(yù)防措施

（寧夏共享集團股份有限公司（寧夏先進鑄造技術(shù)重點實驗室），寧夏 銀川750021）

射線檢測[1]由于能夠?qū)z測結(jié)果直接記錄在底片上，因此成為各種無損檢測方法中記錄最真實、最直觀、最全面、可追蹤性最好的檢測方法。射線檢測也因此在各個行業(yè)中得到了廣泛應(yīng)用。底片作為射線檢測信息的記錄載體，其質(zhì)量的優(yōu)劣直接關(guān)系到射線檢測的效果[2-3]。底片的質(zhì)量不僅與現(xiàn)場射線透照工藝有關(guān)，而且與很多因素有關(guān)。由于膠片本身質(zhì)量、膠片保管、剪切、裝取、暗室操作處理不當(dāng)，以及操作者其他操作不慎等原因，在底片上留下可辨別的影像，但并非是被檢驗工件缺陷在底片上留下的影像，被稱為偽缺陷。實際工作中由于產(chǎn)生偽缺陷引起的重拍比例比較高，不僅增加了現(xiàn)場檢測人員的勞動強度和檢測成本，同時也影響了工程的進度。因此，對由于操作不當(dāng)而引起的底片質(zhì)量問題進行歸納總結(jié)以及提出預(yù)防措施就顯得特別有意義。

下面詳細(xì)介紹X射線底片常見偽缺陷及其預(yù)防措施。

1 靜電

靜電曝光斑點的表征為鋸齒狀分支黑線或不規(guī)則且密集的黑色小點，這是由靜電電荷的逸散運動導(dǎo)致的。在相對濕度較低（干燥）的情況下，裝片或卸片時，從包裝盒中快速取出膠片或快速抽掉膠片包裝中的夾紙是導(dǎo)致靜電曝光斑點的最常見的原因。

常見的偽缺陷靜電斑痕有：冠狀、枝狀和點狀三種類型。

冠狀和枝狀是最常見的靜電斑痕,是嚴(yán)重的電子放電結(jié)果，是快速動作造成的。點狀靜電斑痕，是由于膠片表面受到附近完全瞬間放電產(chǎn)生的；當(dāng)大面積產(chǎn)生較低電位放電時，也會引起點狀靜電斑痕。

靜電斑痕可以通過以下措施來預(yù)防：

（1）要使用有襯紙的膠片，拿膠片時動作要輕柔，要讓襯紙從膠片之間落下，再將膠片輕輕放入暗盒，切不可在增感屏之間滑動。

（2）膠片經(jīng)X射線曝光后，暗盒在暗室中應(yīng)慢慢打開，并將膠片小心取出。因為膠片一經(jīng)曝光，對能源的敏感性會增加到2倍多。因此膠片曝光后會與很小的靜電荷發(fā)生作用。

（3）避免穿著人造纖維工作服或戴人造纖維手套。

（4）裝片、卸片工作臺的金屬面板必須有帶電氣接地，應(yīng)避免在水泥地上鋪設(shè)絕緣的覆蓋材料。

（5）在環(huán)境濕度較低的時期 (冬季或北方氣候)，靜電易于產(chǎn)生，應(yīng)根據(jù)實際情況采取增濕措施，防止靜電荷產(chǎn)生。

預(yù)防措施為在相對濕度大于40%的環(huán)境下保存膠片，從包裝盒取出膠片時避免快速滑動或移動膠片。在空氣干燥的秋冬季節(jié)里，靜電很容易堆積，洗片人員盡量避免穿腈綸和毛料等易產(chǎn)生靜電材質(zhì)的衣服。

2 夾雜物

當(dāng)外來物質(zhì)(如頭發(fā)絲、纖維絲、白色手套的棉線、裁膠片時產(chǎn)生的廢屑等)夾入膠片與增感屏之間，就會在處理后的膠片上產(chǎn)生一條纖細(xì)白色條紋或不規(guī)則的斑點。

為盡可能減少因增感屏引起的偽缺陷，應(yīng)該使增感屏絕對清潔、光滑、無缺陷和外來雜物。同時還要注意：若使用有塑料防護涂層的增感屏，在新屏使用前一定要將涂層清除掉。

3 折痕

膠片折痕通常是在裝片或卸片過程中，膠片過度彎曲受折引起。膠片在曝光前受折，會產(chǎn)生黑度低于底片臨近黑度的新月型顯示，即產(chǎn)生白色影像；膠片在曝光后受折，會產(chǎn)生黑度高于底片臨近黑度的新月型顯示，即產(chǎn)生黑色影像。預(yù)防措施：切裝膠片、對膠片曝光及暗室處理時，應(yīng)避免膠片受折彎曲而留下。

4 劃傷

射線膠片乳劑比較嬌嫩，操作人員在暗室里裝、拆膠片過程中無意刮、劃膠片表面，例如指甲碰到膠片或磨料劃傷膠片，都會在底片上留下黑線。膠片劃傷可借助與膠片表面成某一角度的反射光來識別。預(yù)防措施裝、拆、洗片過程中按規(guī)程要求操作，且經(jīng)常修剪指甲或戴手套操作。缺陷示意圖如圖1，圖2所示。

圖1折痕偽缺陷示意圖

圖2劃傷偽缺陷示意圖

5 跑光

若膠片暗盒在過亮的暗室中打開，或者膠片放在并不完全避光的暗盒中，導(dǎo)致未處理的膠片無意中受到曝光，從而使底片上局部區(qū)域出現(xiàn)規(guī)則或不規(guī)則黑色影像（如：底片邊緣出現(xiàn)不規(guī)則的黑斑等）。這樣膠片會造成嚴(yán)重的過曝光，為解決這一問題，應(yīng)定期對暗袋進行檢查，及時對破損的暗袋進行更換。定期對暗室紅燈安全性進行測定，嚴(yán)格控制裁、裝膠片及洗片時暗室的光線強度。除此之外，進口處應(yīng)設(shè)置過渡間和雙重門，以保證出入不漏光。跑光偽缺陷示意圖如圖3所示。

圖3跑光偽缺陷示意圖

6 增感屏缺陷

增感屏可以提高可見光對膠片的感光作用，大大降低了膠片形成影像所需要的射線劑量。當(dāng)增感屏被損壞或污染后，增感屏的局部增感性能就會改變，從而導(dǎo)致底片上有不規(guī)則的黑色或白色影像產(chǎn)生。作用的詳細(xì)過程如下：增感屏被劃傷，使鉛膜的表面積增大，曝光時產(chǎn)生的散射電子多，增感作用增強，在底片上產(chǎn)生黑影；鉛膜脫落或增感屏上有污物，則會使鉛膜的表面積減小，曝光時產(chǎn)生的散射電子少，增感作用減弱，在底片上留下白色影像。預(yù)防措施：定期檢查增感屏，及時更換損壞的增感屏。

7 指印

指紋類印記一般易識別，在底片上可造成深淺不一的影像，這是由于操作人員在洗片過程中，手上沾有汗?jié)n、油污等污染物導(dǎo)致的。預(yù)防措施：操作人員在洗片時應(yīng)保持雙手清潔，并且佩戴純棉制的白色手套，洗片過程中認(rèn)真按暗室操作管理規(guī)定進行工作。

8 壓痕

壓痕是由于膠片局部受壓而引起膠片上藥膜局部感光，從而在底片上留下痕跡。例如在透照布片過程中一些零件可能落到膠片暗盒上，或裝袋過程中增感屏不小心砸到膠片上，這樣在處理后的膠片上就會產(chǎn)生壓痕偽缺陷，一般曝光前引起的壓痕偽缺陷黑度較低，曝光后引起的壓痕偽缺陷黑度較高。預(yù)防措施：裁裝和透照過程要小心，裁裝好的膠片應(yīng)立放，以避免膠片局部受重壓。

9 灰霧

灰霧是未處理的膠片因受到低度輻射、高濕或高溫，或受到光強超過限值的安全燈照射，所引起的一種輕微、普遍的曝光效應(yīng)。

10 結(jié)束語

暗室處理質(zhì)量的好壞，直接影響了底片質(zhì)量的高低，要做好暗室處理工作，關(guān)鍵是操作人員技術(shù)水平和責(zé)任心。暗室處理每一個細(xì)節(jié)的成功才能保證射線底片的質(zhì)量，提高射線探傷的一次成功率。

底片上偽缺陷的辨認(rèn)需要一定的實踐經(jīng)驗。在底片的評定過程中，通過雙片中缺陷是否一樣是辨認(rèn)偽缺陷的非常有效的方法。

[1]強天鵬.射線檢測[M].北京：中國勞動社會保障出版社，2007.

[2]ASME V-2007-22 SE-999工業(yè)射線照相膠片處理質(zhì)量控制標(biāo)準(zhǔn)指南[S].

[3]GB/T 9348-1998無損檢測工業(yè)射線照相膠片[S].