Fe—N共摻Zno電子結(jié)構(gòu)理論的研究
2015-01-04 13:41:27俞澤民等
哈爾濱理工大學(xué)學(xué)報(bào) 2014年4期
俞澤民等
摘要：應(yīng)用第一性原理，電子密度泛函理論作為研究的理論基礎(chǔ)，通過計(jì)算來研究Fe-N共摻znO晶體的幾何結(jié)構(gòu)、電子內(nèi)部結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì)。由結(jié)構(gòu)圖、能帶圖、光吸收曲線相互分析其幾何結(jié)構(gòu)、電子內(nèi)部結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì)的形成原因。對(duì)圖形進(jìn)行分析，結(jié)果表明Fe-N共摻znO后價(jià)帶上移，禁帶寬度小于純znO，其光吸收曲線發(fā)生紅移，提高了znO對(duì)可見光的利用率，這一結(jié)果可為進(jìn)一步研究Fe-N共摻znO實(shí)驗(yàn)奠定基礎(chǔ)。endprint
摘要：應(yīng)用第一性原理，電子密度泛函理論作為研究的理論基礎(chǔ)，通過計(jì)算來研究Fe-N共摻znO晶體的幾何結(jié)構(gòu)、電子內(nèi)部結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì)。由結(jié)構(gòu)圖、能帶圖、光吸收曲線相互分析其幾何結(jié)構(gòu)、電子內(nèi)部結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì)的形成原因。對(duì)圖形進(jìn)行分析，結(jié)果表明Fe-N共摻znO后價(jià)帶上移，禁帶寬度小于純znO，其光吸收曲線發(fā)生紅移，提高了znO對(duì)可見光的利用率，這一結(jié)果可為進(jìn)一步研究Fe-N共摻znO實(shí)驗(yàn)奠定基礎(chǔ)。endprint
摘要：應(yīng)用第一性原理，電子密度泛函理論作為研究的理論基礎(chǔ)，通過計(jì)算來研究Fe-N共摻znO晶體的幾何結(jié)構(gòu)、電子內(nèi)部結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì)。由結(jié)構(gòu)圖、能帶圖、光吸收曲線相互分析其幾何結(jié)構(gòu)、電子內(nèi)部結(jié)構(gòu)和光學(xué)性質(zhì)的形成原因。對(duì)圖形進(jìn)行分析，結(jié)果表明Fe-N共摻znO后價(jià)帶上移，禁帶寬度小于純znO，其光吸收曲線發(fā)生紅移，提高了znO對(duì)可見光的利用率，這一結(jié)果可為進(jìn)一步研究Fe-N共摻znO實(shí)驗(yàn)奠定基礎(chǔ)。endprint
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