侵徹試驗柔性數(shù)據(jù)系統(tǒng)發(fā)射系統(tǒng)方案設(shè)計

韓磊 張亞 李世中

摘 要：本文主要介紹了系統(tǒng)的設(shè)計原理，分析了侵徹彈藥的發(fā)送存儲系統(tǒng)設(shè)計中遇到的困難，并提出了解決方案對其進行改進，并詳細敘述了電路設(shè)計中數(shù)據(jù)發(fā)生器和記錄器的每個模塊的硬件設(shè)計。針對準確無誤的數(shù)據(jù)傳輸過程，系統(tǒng)采用STC12LE4052AD單片機控制整個系統(tǒng)的邏輯，從而提高了系統(tǒng)的實用性，集成度和耐用性；W25X16作為存儲介質(zhì)，最小化存儲模塊的設(shè)計，重點對其結(jié)構(gòu)設(shè)計進行保護，并在設(shè)計過程中縮減系統(tǒng)的體積，以擴展數(shù)據(jù)保留時間，能更進一步使系統(tǒng)可靠性得到提高。

關(guān)鍵詞：侵徹；柔性傳輸；數(shù)據(jù)發(fā)送

本測試系統(tǒng)主要用于硬目標侵徹條件，測量和記錄彈體的數(shù)據(jù)，為了提高系統(tǒng)的可靠性和數(shù)據(jù)的實時接收，系統(tǒng)具有實時數(shù)據(jù)記錄存儲和長線發(fā)送數(shù)據(jù)，通過存儲系統(tǒng)接收數(shù)據(jù)可以實時采集發(fā)送系統(tǒng)發(fā)送的數(shù)據(jù)，并在同一時間（發(fā)射過程中，擊中目標的過程或其他干擾嚴重的情況下）不會影響傳輸數(shù)據(jù)的接收，存儲記錄系統(tǒng)把接收到的數(shù)據(jù)存儲于內(nèi)置的大容量非易失性存儲器，試驗后應(yīng)回收并讀出數(shù)據(jù)。該測試系統(tǒng)的特點：

⑴具有體積小，重量輕優(yōu)點：對彈體的重量和重心分布的影響小。

⑵高抗沖擊性，高可靠性：通過嚴格的生產(chǎn)過程篩選，高溫、低溫和空氣對試驗的影響，以確保在惡劣環(huán)境下仍能可靠的工作。

⑶低功耗：適應(yīng)彈體測試環(huán)境。

⑷有線柔性傳輸數(shù)據(jù)到存儲器中，可靠地獲得數(shù)據(jù)[1]。

1 主控制芯片選擇

單片機控制模塊比起DSP，嵌入式，F(xiàn)RGA等芯片來說，單片機價格便宜，設(shè)計簡單易用。因此，在系統(tǒng)設(shè)計中，如果控制芯片僅需完成一般的控制功能，那么單片機就是中心控制系統(tǒng)最好的選擇。

由于系統(tǒng)由多個芯片組成，所以很難保證電路板體積小；此外，系統(tǒng)越是復(fù)雜，在電路板布線越多，使系統(tǒng)的可靠性降低。該測試系統(tǒng)完成測試過程中應(yīng)盡量使用的元件要少，由于本測試系統(tǒng)中的單片機集成度很高（STC12LE4052AD）用它作為發(fā)送存儲數(shù)據(jù)及控制主要元件[2]。

STC12C2052AD單片機集成電路主要包括中央處理器（CPU）、程序存儲器（Flash）、數(shù)據(jù)存儲器（SRAM）、定時/計數(shù)器、串口UART、I/O接口、高速A/D轉(zhuǎn)換、SPI接口、PCA、看門狗和片上R/C振蕩器和一個外部晶體振蕩器電路模塊。STC12C2052AD系列單片機包含了幾乎所有數(shù)據(jù)存儲和控制系統(tǒng)的要求模塊，可稱得上一個片上系統(tǒng)[3]。

2 主控數(shù)據(jù)的傳輸設(shè)計

由于該裝置是由電池供電，而電池的容量是有限的，所以電路模塊需要實現(xiàn)節(jié)能省電的目的，因此在整個電路模塊的設(shè)計，使用電源管理減少不必要的系統(tǒng)不工作時的電流消耗，另一方面，在整個測試過程，用了很多外圍單片機模塊，此消耗功率很大，因此想實現(xiàn)系統(tǒng)低功耗可以用來降低單片機本身來實現(xiàn)整個系統(tǒng)[4]。低功耗硬件設(shè)計原則

⑴應(yīng)盡量選用高速/低功耗/抗干擾強的芯片；

⑵分區(qū)/分時供電在不工作時，可以關(guān)閉以節(jié)省電力消耗；

⑶需要一個上拉電阻的使用，以防止功率消耗在上拉電阻上，一般可以達到幾十或幾百kW，驅(qū)動后續(xù)電路原理上應(yīng)該選擇較大電阻。但如果低電平信號在多數(shù)情況下，這時應(yīng)該選擇一個下拉電阻[5]。

STC12C2052AD系列單片機的串行通信接口有4種工作模式，可通過串行控制對SCON中的SM0、SM1的設(shè)置進行軟件編程選擇。模式1、模式2和模式3為異步通信，每個發(fā)送和接收都有1個啟動位和1個停止位的字符。在模式0中，串行端口作為1個簡單的移位寄存器。本設(shè)計采用串口工作模式1為串口通信。

當(dāng)軟件設(shè)置SCON的SM0、SM1是“01”時，串口模式1開始工作。此模式為8位異步格式，一幀信息為10位：1個起始位，8位數(shù)據(jù)位（低位優(yōu)先）和1位停止位。波特率可根據(jù)變量需要進行設(shè)置。TxD是發(fā)送信息端口，RxD是接收信息端口。圖3.3為串行口模式1的接收/發(fā)送時序圖：

發(fā)送過程模式1：發(fā)送串行通信的方式，從TXD輸出的串行發(fā)送數(shù)據(jù)。當(dāng)主機執(zhí)行寫“SBUF”命令來時開始發(fā)送串行通信，寫上“1”成也發(fā)送移位寄存器的第九位串行數(shù)據(jù)緩沖器的“信號”，并通知發(fā)射控制單元發(fā)送[6]。

接收過程模式1：當(dāng)軟件置位接收允許標志位REN，即REN=1時，便以與選定的波特率16頻率采樣串口接收端口接收數(shù)據(jù)的接收器，當(dāng)RXD端口進行負跳變的時候接收器可以開始接收數(shù)據(jù)，并立即復(fù)位16分頻計數(shù)器[7]。

3、主控數(shù)據(jù)存儲的設(shè)計

程序存儲器用于存儲用戶信息的程序數(shù)據(jù)和表格等。STC12C2052AD系列單片機集成1K～30K字節(jié)的Flash程序存儲器。程序存儲器閃存單片機STC12C2052AD系列各類地址如下表所示。

單片機復(fù)位，程序計數(shù)器（PC）內(nèi)容為0000H，從0000H單元程序開始執(zhí)行。此外，中斷服務(wù)程序的入口地址（也被稱為中斷向量）也位于在程序存儲器單元。在程序存儲器中，每個中斷都有一個固定的入口地址，當(dāng)中斷發(fā)生響應(yīng)時，控制器將自動跳轉(zhuǎn)到相應(yīng)的中斷程序執(zhí)行地址的入口[8]。外部中斷的中斷服務(wù)程序的入口地址是00003H，定時器/計數(shù)器0中斷服務(wù)程序的入口地址是000BH，外部中斷的中斷服務(wù)程序的入口地址是0013H，定時器/計數(shù)器1中斷服務(wù)程序的入口地址是001Bh[9]。因為相鄰的中斷入口地址區(qū)間間隔（8個字節(jié)）有限，中斷服務(wù)程序，一般無法保存完整性，通常在該地區(qū)的一個無條件跳轉(zhuǎn)到指令中斷響應(yīng)的地址，指向真正的存儲空間來執(zhí)行中斷服務(wù)程序[10]。程序存儲器可以反復(fù)擦除Flash在線編程的100000次以上，提高了靈活性和易于集成。

4 主控數(shù)據(jù)接口的設(shè)計

該MAX3232/3232收發(fā)器是一個低壓差變送器輸出級采用專有的，使用雙電荷泵在3.0V至5.5V電源可以實現(xiàn)RS-232的真實性能，max3232供電電壓5v或3.3V，耗電0.3mA，外接4個0.1uF電容。max3232確保在120kbps數(shù)據(jù)速率，同時保持RS-232輸出電平[11]。電路圖如下：

5 結(jié)論

根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計的原則，對數(shù)據(jù)采集和滲透過程存儲測試系統(tǒng)的模塊化設(shè)計。本文詳細論述了各功能模塊的硬件電路設(shè)計；為了驗證系統(tǒng)的可行性，對試驗數(shù)據(jù)的處理和分析，結(jié)果表明，由存儲系統(tǒng)的收集，存儲測試系統(tǒng)可以承受高過載測試土壤沙袋的滲透，以及系統(tǒng)的實測數(shù)據(jù)正確的。主要內(nèi)容包括以下幾個方面：

⑴綜合收集分析，基于滲透和滲透到相關(guān)文檔的存儲讀系統(tǒng)，國內(nèi)外研究現(xiàn)狀進行了綜述，并對其發(fā)展趨勢和應(yīng)用進行了討論。

⑵項目的背景和技術(shù)指標研究性學(xué)習(xí)，通過對系統(tǒng)的工作原理的分析，提出了系統(tǒng)的設(shè)計，并介紹了各功能模塊的設(shè)計方案與實現(xiàn)。

⑶在硬件電路設(shè)計中，通過實驗和理論分析，可以在高過載設(shè)計給電力系統(tǒng)的正常供電；在采集與存儲系統(tǒng)具體分析與應(yīng)用；分析并優(yōu)選了W25X16作Flash存儲器。

⑷對存儲測試系統(tǒng)的實測信號長距離傳輸過程中波形的失真進行了分析和改進，設(shè)計系統(tǒng)基本滿足要求，完成了設(shè)計給定的任務(wù)。

[參考文獻]

[1]姚長虹.小型彈載遙測單元設(shè)計與實現(xiàn).現(xiàn)代電子技術(shù).2010，33.1：24-30.

[2]許志宏，李鴻飛，李樹剩.飛航導(dǎo)彈測試技術(shù)發(fā)展方向分析.海軍航空工程學(xué)院學(xué)報.2001，16.2：231-234.

[3]孫燕妮.某導(dǎo)彈采編存儲轉(zhuǎn)發(fā)測試系統(tǒng)的設(shè)計與研究.華北工學(xué)院碩士學(xué)位論文.2003.

[4]催敏.小型飛行體姿態(tài)測試研究.中北大學(xué)碩士學(xué)位論文.2005.

[5]裴東興.新概念動態(tài)測試若干問題的研究.北京理工大學(xué)博士學(xué)位論文.北京：北京理工大學(xué).2004.

[6]劉致安，梁燕熙.未來存儲遙測技術(shù).兵工學(xué)報.1994，（4）.

[7]張文棟.彈道數(shù)據(jù)的存儲測試方法.中國兵工學(xué)會第三屆測試技術(shù)學(xué)術(shù)論文會論文集.1988.

[8]張文棟.彈道數(shù)據(jù)采集與存儲測試系統(tǒng).太原機械學(xué)院碩士論文.1986.

[9]張文棟，祖靜.引信動態(tài)數(shù)據(jù)的存儲測試技術(shù).現(xiàn)代引信.1988，（2）.

[10]馬游春.微型高過載存儲測試系統(tǒng)研究.華北工學(xué)院學(xué)位論文.2003.

[11]祖靜，申湘南，張文棟.存儲測試系統(tǒng)的設(shè)計理論及其應(yīng)用.高等教育出版社.2002.