基于成像式照度探測的光源光強分布測量

唐翠榮，劉軍，王珊珊，左勇，武文彬

（1.中航工業北京長城計量測試技術研究所長度研究室，北京100095；2.北京理工大學，北京100081）

基于成像式照度探測的光源光強分布測量

唐翠榮1，劉軍1，王珊珊2，左勇1，武文彬1

（1.中航工業北京長城計量測試技術研究所長度研究室，北京100095；2.北京理工大學，北京100081）

基于成像式照度探測的光源光強空間分布特性測量方法以其量值準確、大幅消除背景光干擾等優點，受到人們的廣泛關注。本文根據成像式照度探測原理設計了一套光源光強空間分布特性檢測裝置，通過實驗測試了該檢測系統，并總結了測量位置與光強空間分布測量誤差之間的關系。該系統具有很好的實用價值。

光強測量；成像式照度探測；影響因素分析

0 引言

目前光源光強測量多為測量與光源相距一定距離處的光照度，根據I＝EL2平方反比定律計算出光源光強。照度的測量方法為：將標定過的光電探測器放置在待測的空間位置，根據需要的探測方式對準光源進行測量。該方法的測量精度普遍較低，主要原因為沒有排除空間內雜散光的影響、光源對準精度較低等。如果在暗室實驗室中進行測量，又不能滿足諸如鐵路信號燈、機場助航燈、艦載機光學著艦引導系統等大口徑、遠作用距離光源的測量需求。為了解決這一問題，本文基于成像式照度探測的光源光強測量理論，設計了一套光源光強空間分布的測量系統，通過實驗分析了其測量精度和對空間內雜散光的消除能力，并得出了測量位置與測量精度之間的關系。

1 檢測原理與系統

1.1 成像式照度探測原理

國內外測試空間光強分布較常用的方法是：在空間布置多個光探測器，根據被測燈具的形狀將探測器擺放成球面或柱面的形狀，利用多路采集卡進行數據采集［1］。其光度探測單元根據所需的探測方式對準光源進行測量。當被測光源為大口徑、大發光角度并且需要遠距離應用的光源類型時，該方法存在的主要問題為測試空間內雜光的抑制率較低和探測器無法精確按照實驗要求對準被測光源，從而導致測量結果精度降級。為了解決這個問題，進一步提高光強測量精度，可采用成像式照度探測光強測量方法。

成像式照度測量原理圖如圖1所示。其與普通測量的主要區別是在照度探頭前加裝了成像透鏡，從而使以規定方式進入成像透鏡的光通量能夠聚焦到照度探頭。

成像式照度探測具有以下幾個優點［2］：

1）提高到達照度探頭的光通量 （達到SA／SB倍，SA為成像透鏡的通光面積，SB為照度探頭的光敏面面積）。當測量距離較遠、照度較小時，在照度探頭靈敏度一定的情況下，提高探頭捕獲的光通量，對保障測量精度有很重要的意義。

2）提高檢測系統對雜散光的抗干擾能力。在環境較差，特別是在室外工作時，環境光的干擾是難以避免的。采用成像式照度探測結構，只有視場中以特定方向傳播的光才能到達照度探頭。對于雜散光，對光學系統內表面做發黑處理和添加消雜光螺紋，其就會被吸收，可以有效地消除雜散光的干擾。

3）系統簡化，便于使用。進行光強檢測時，需要按要求瞄準待測光源。通過設計可以使測量和瞄準共用一個光學系統，這樣可以簡化系統提高瞄準精度，并且不用隨測量距離變化修改瞄準軸，使用方便。參考光學結構如圖2所示。

1.2 成像式照度探測系統

根據以上原理設計探測系統。系統測試對象選擇菲涅爾光源。菲涅爾光源以發光強度大、均勻性高、方向性好、作用距離遠等優點獲得越來越廣泛的應用。菲涅爾光源具有很明顯的光強邊界，在邊緣位置光強下降的很快，通過探測系統獲得光源中心和邊緣的光強測量結果與其理論值之間的對比能直觀地檢測測量系統的性能。因此無論從實際應用方面還是性能分析方面，菲涅爾光源都是較為理想的測試對象。

分布光度計一般分為5種，傳感器旋轉式分布光度計、燈具旋轉式分布光度計、雙鏡式分布光度計、圓周運動反光鏡式分布光度計和中心旋轉反光鏡式分布光度計等［3］。根據瞄準精度和與菲涅爾光源配合使用兩方面考慮，選擇燈具旋轉式光強分布測量方法。

綜上設計成像式照度探測系統，如圖3所示，主要包括分光成像模塊、圖像采集模塊、照度探測模塊。

2 實驗過程及結果分析

2.1 實驗過程

實驗目的：測量菲涅爾光源光強空間分布、雜光衰減率，分析影響測量精度因素。實驗方式為燈具旋轉式分布光度計光強測量方式，測量步長選擇為0.1°。菲涅爾燈固定放置在角度標準系統平臺上，其主要參數為：承載能力：50 kg（含安裝卡具）；轉角范圍：－360°～＋360°連續；定位誤差：±2″。光源選擇口徑為20 cm的圓形發光面菲涅爾光源，采用穩壓穩流電源為其供電，保證發光的均勻一致性。測量距離為5 m。

2.2 光源光強空間分布分析

測量結果如圖4所示。

圖4中，直線為菲涅爾光源理想發光曲線，由于測量距離不是無限遠，因此理想發光曲線下降邊緣斜率不為無限大。光源測量角度為光源對準探測器的角度。測量值為本測量系統輸出的數字值，經過系統標定之后轉化為照度值，根據實驗位置關系可以推算得到光源光強值，該系統輸出數字值與光源光強為線性關系。高次曲線為實際測量值。

由圖可知，實際測量光強最大值與理想值基本重合，但由于測量距離較遠，在傳輸過程中，存在光能損失，所以不完全重合。在發光角度15°以上時，理想光強為0，由于實驗是在實驗室內進行，存在光的室內不規則散射問題，因此該范圍內的實際測量值為室內散射光。在下降邊緣處，實際測量曲線與理想曲線很接近，說明該系統對光源光強空間分布測量準確。在下降邊緣測試曲線與理想曲線的相關系數為0.9626，符合國家對電光源發光強度所規定的檢測要求。

2.3 雜光衰減率分析

在相同實驗條件下，通過對比光源未照射時成像式照度探測系統所測得的照度值與該實驗系統去掉成像系統之后測得的照度值，分析該系統對空間雜散光衰減率。

成像式照度探測系統讀數E1＝16 lx，直接測量讀數E2＝2205 lx。雜散光衰減率為

3 影響測量精度因素分析

3.1 光強測量精度與測量位置關系分析

當前很多光源的口徑較大，在測量時不能近似為點光源，而作為面光源參與分析。對于發光面為圓形的菲涅爾光源，當其發光面為朗伯體時，在距光源一定距離處測得的發光強度可以表示為

式中：E為照度值；l為測量距離；r為光源半徑；L0為光源距測量點的距離；θ為測量角度；ρ，φ為測量點所在位置的極坐標。相對測量誤差ε為發光強度的真值減去測量值所得的差值與真值之比。當照度計位于光源發光面中心法線上時，發光強度測量相對誤差ε與相對測量距離l／r關系如圖5所示。

從圖5中可以得出，照度探頭位于光源發光面法線上時，隨著相對測量距離的增大，相對測量誤差急劇減小。在光強檢測時，應當根據對測量精度的要求，選擇相應的相對測量距離。

當照度探頭位于發光面中心法線以外時，不同相對測量距離時發光強度測量誤差ε如表1所示。

從表1可以得出：①同一個測量方向的測量誤差ε隨相對測量距離l／r的增大迅速減小；②相對測量距離l／r相等時，測量誤差隨測量角度θ的增大而逐漸減小，即當θ在－20°～＋20°變化時，在邊緣測量發光強度的精度比在中心測量時高。

3.2 光強角度分布精度與測量位置關系分析

菲涅爾光源結構如圖6所示，發光面位于菲涅爾透鏡焦平面，燈絲發出的光通過菲涅爾透鏡形成一束平行光，用于遠距離的指示作用。由于燈絲具有一定的尺寸，燈絲邊緣發出的光通過菲涅爾透鏡后形成的光柱不與光軸平行，因此菲涅爾燈的出射光線具有一定的發散角度。

理想菲涅爾光源光強空間分布，當角度大于γ／2時光強為0，小于γ／2時光強為平均分布，γ為光源發光的發散角。當發散角γ為1°時，在不同相對距離下對菲涅爾光源進行測量，以相對光強隨角度分布關系作圖，如圖7所示。圖7中，l／b為相對測量距離，b為菲涅爾透鏡的邊長；Iθ／I0為相對光強值，Iθ表示測量角度為θ時的光強；I0為θ＝0時的光強。

從圖7中可以得出：①相對測量距離越小，中心相對發光強度測量誤差越大，隨相對測量距離的增大，逐漸趨于真值；②隨著相對測量距離的增大，相對發光強度強度邊界越來越陡峭，也越接近真實值；③相對測量距離越大，發光面相對光強分布曲線越接近其上各點的相對光強分布。

圖8為光束發散角γ為10°時不同相對距離下測量得到的相對光強分布。比較圖7與圖8，通過分析得出：①在相對測量距離l／b一定的情況下，對于不同光束發散角的菲涅爾信號燈，其邊界相對發光強度隨測量角度θ的變化率是相等的。也就是說，相對發光強度分布測量誤差只與相對測量距離l／b有關，而與信號燈本身的光束發散角γ無關；②信號燈邊界發光強度變化曲線斜率正比于相對測量距離。如表2為不同相對測量距離下信號燈光束邊界的相對光強變化斜率。

其中斜率k的計算公式為

因此，要保證光源光強空間分布測量的準確性，就需要在較大的相對距離下測量。

4 結論

本文通過分析成像式照度探測光強原理，設計了光源光強空間分布測量系統。通過實驗證明該系統具有測量精度高、對空間雜散光抑制率高等突出優點。進一步分析影響光源光強測量精度和光源光強空間角度分布精度的主要因素，得出了相對測量位置與測量精度之間的關系，本文研究結果對光源光強空間分布的測量具有很好的實用價值。

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M easurem ent of Lum inous Intensity Based on Im aging Illum ination Detect

TANG Cuirong1，LIU Jun1，WANG Shanshan2，ZUO Yong1，WU Wenbin1
（1.Changcheng Institute of Metrology＆Measurement，Beijing 100095，China；2.Beijing University of Technology，Beijing 100081，China）

In the field of space light intensitymeasurement，themethod based on imaging illumination detect hasmany outstandingmerits，such as accuratemeasurement and anti-back light interference，and it has attracted broad attention.Based on this theory，a new system for the measurement is developed.The system was tested by experiments，and conclusion wasmade on the relationship between themeasurement positions and themeasurement errors of luminous intensity.The system is of high practical values.

luminous intensitymeasurement；imaging illumination detection；influence analysis

TB92；O432.2

B

1674－5795（2014）01－0035－04

10.11823／j.issn.1674－5795.2014.01.10

2013－11－14；收修改稿日期：2013－12－19

國家“十一五”技術基礎科研項目（J052009B002）

唐翠榮 （1961－），女，工程師，從事幾何量計量與測試技術研究工作。