基于雙聯(lián)對(duì)置傳感器的硬幣機(jī)讀特征檢測(cè)系統(tǒng)

張武軍+司峻峰+黃曉林

摘 要： 與硬幣自動(dòng)識(shí)別相關(guān)的硬幣電磁參數(shù)稱為硬幣的機(jī)讀特征。傳統(tǒng)的硬幣機(jī)讀特征識(shí)別方法具有檢測(cè)參數(shù)溫飄大、一致性差、檢測(cè)參數(shù)單一等缺陷。在此采用相關(guān)檢測(cè)方法對(duì)硬幣機(jī)讀特征檢測(cè)線圈的復(fù)阻抗變化進(jìn)行檢測(cè)，從而獲得檢硬幣機(jī)讀特征。檢測(cè)系統(tǒng)采用DDS的正交激勵(lì)信號(hào)具有波生波形良好，頻率、相位和幅值穩(wěn)定的有點(diǎn)。采用相關(guān)檢測(cè)方法，電路從本質(zhì)上改善了對(duì)硬幣差異形成的微弱信號(hào)的捕獲能力，有利于實(shí)現(xiàn)硬幣機(jī)讀特征的在線檢測(cè)。利用雙聯(lián)對(duì)置渦流傳感器能有效地克服溫漂和提高信號(hào)的動(dòng)態(tài)范圍，每枚硬幣可以檢測(cè)兩次，通過(guò)數(shù)據(jù)處理后可以獲得更加準(zhǔn)確的結(jié)果。結(jié)果表明該系統(tǒng)能夠檢測(cè)出微小的硬幣機(jī)讀特征差異，具有良好的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。

關(guān)鍵詞： 復(fù)阻抗； 雙聯(lián)對(duì)置渦流傳感器； 相敏檢測(cè)； 硬幣機(jī)讀特征

中圖分類號(hào)： TN919?34 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼： A 文章編號(hào)： 1004?373X（2014）04?0138?05

System based on dual opposed sensor for detecting machine?readable features of coins

ZHANG Wu?jun1， SI Jun?feng2， HUANG xiao?lin2

（1. Nanjing CBPM Great Wall Financial Equipment Co.， Ltd， Nanjing 210029， China；

2. School of Electronic Science & Engineering， Nanjing University， Nanjing 210093， China ）

Abstract： Coins electromagnetic parameters related to automatic coin recognition are called coin machine readable features. Traditional method of automatic coin recognition has big defection temperature drift， poor consistency， sole detecting parameter and so on. In this paper， the method to detect complex impedance variation of coin machine readable feature detecting coil is proposed in this paper. The detecting system can generate orthogonal excitation signal， which has perfect waveform， and stable frequency， phase and amplitude. By the relevant detection method， the circuit can essentially improve the ability to capture the weak signal formed by the difference between coins. It is conducive to the realization of online detection for coin machine readable features. The system can effectively overcome the temperature drift and improve the dynamic range of signal by using dual opposed eddy current sensor. Every coin can be detected twice， thus more accurate results can be obtained by data processing. The testing results show that the system can detect the tiny difference of coin machine readable feature， and has good stability and repeatability.

Keywords： complex impedance； dual opposed eddy current sensor； phase sensitive detection； coin machine?readable feature

0 引 言

硬幣作為輔幣具有流通周期長(zhǎng)，易于自動(dòng)售貨與找零等優(yōu)點(diǎn)，以美國(guó)、日本和德國(guó)為代表的發(fā)達(dá)國(guó)家已基本實(shí)現(xiàn)輔幣的硬幣化。輔幣的硬幣化使得硬幣的自動(dòng)識(shí)別成為流通過(guò)程中不可缺少的一個(gè)環(huán)節(jié)。硬幣識(shí)別所涉及電磁參數(shù)的規(guī)范化成為實(shí)際問(wèn)題[1]。

從硬幣識(shí)別分類的原理上看，當(dāng)某一類硬幣被用于識(shí)別的電磁參數(shù)的一致性越好，與其他硬幣電磁特征上的差異越大，這類硬幣就也容易被識(shí)別。電磁特征越不容易被復(fù)制，這類硬幣的防偽特征就越好。前者與生產(chǎn)工藝和質(zhì)量控制有關(guān)，后者則與硬幣的規(guī)劃與設(shè)計(jì)有關(guān)，本文所研究的系統(tǒng)用于生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制[1?2]。通過(guò)在生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)硬幣與識(shí)別相關(guān)的電磁特征進(jìn)行逐枚硬幣測(cè)試，剔除電磁參數(shù)偏差較大的硬幣，為市場(chǎng)上的硬幣自動(dòng)識(shí)別打下良好的基礎(chǔ)。

硬幣自動(dòng)識(shí)別過(guò)程中的參數(shù)檢測(cè)涉及多學(xué)科研究領(lǐng)域，技術(shù)復(fù)雜，國(guó)內(nèi)外相關(guān)研究部門和一些院校均做過(guò)研究，在給定幣種樣本范圍內(nèi)取得了較好的效果。但對(duì)硬幣特征的識(shí)別都局限于社會(huì)流通領(lǐng)域，在系統(tǒng)性、完整性和穩(wěn)定性上沒(méi)有進(jìn)行深入研究，存在對(duì)偽幣識(shí)別效果不好等問(wèn)題[3]。目前，主流的硬幣機(jī)讀特征檢測(cè)方法主要有頻率法、相位法、幅值法和脈沖法。其中采用頻率計(jì)數(shù)法的硬幣特征檢測(cè)裝置占據(jù)了市場(chǎng)的主要份額；但是， 基于頻率計(jì)數(shù)法方法在實(shí)際使用中也存在一些問(wèn)題：檢測(cè)參數(shù)溫飄大、易誤判、一致性差，需要周圍環(huán)境溫度適合時(shí)才能有較高的正確識(shí)別率。頻率計(jì)數(shù)法還存在檢測(cè)參數(shù)單一，無(wú)法獲得更多的硬幣信息，無(wú)法對(duì)硬幣信息進(jìn)行智能化處理的問(wèn)題。幅值法因性能不穩(wěn)定而應(yīng)用較少[4]。本項(xiàng)研究采用復(fù)阻抗分析法，對(duì)于由于硬幣的影響帶來(lái)的渦流檢測(cè)線圈的復(fù)阻抗變化量進(jìn)行檢測(cè)，作為硬幣電磁特征指標(biāo)的判定依據(jù)[5]。對(duì)于不同幣種，均有其最佳檢測(cè)頻率，在該頻率下能使其特征電磁參數(shù)的復(fù)阻抗變化量達(dá)到最大化，使檢測(cè)更加精確。在本研究中還設(shè)計(jì)了高穩(wěn)定度的信號(hào)源，采用雙聯(lián)對(duì)置傳感器有效地克服前端的溫飄，同時(shí)對(duì)硬幣本身參數(shù)隨溫度變化帶來(lái)的影響進(jìn)行了修正。實(shí)際測(cè)量表明通過(guò)上述措施，系統(tǒng)具有良好的穩(wěn)定性和一致性，有效地提高了硬幣產(chǎn)品電磁參數(shù)的一致性。

1 檢測(cè)原理

渦流法實(shí)現(xiàn)硬幣的原理是識(shí)別當(dāng)硬幣接近或穿過(guò)渦流傳感器的線圈時(shí)，由于互感作用，將直接導(dǎo)致線圈的視在阻抗發(fā)生變化，這種變化直接與硬幣的結(jié)構(gòu)及相對(duì)位置有關(guān)。這些因素主要包括硬幣的材質(zhì)、外形、厚度、鍍層、花紋等，通過(guò)對(duì)于檢測(cè)線圈視在阻抗變化量的檢測(cè)即可獲得硬幣信息[2?3，6]。

電渦流傳感器的工作原理如圖1（a）所示。當(dāng)采用交變電流I1激勵(lì)檢測(cè)線圈1時(shí)，其周圍產(chǎn)生交變磁場(chǎng)H1，相應(yīng)電渦流I2同時(shí)在檢測(cè)線圈附近的被測(cè)導(dǎo)體2中產(chǎn)生；而I2又將產(chǎn)生交變磁場(chǎng)H2來(lái)阻礙H1的變化。I2的大小、分布等與被測(cè)導(dǎo)體存在缺陷或電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率等物理化學(xué)性質(zhì)有關(guān)，渦流I2產(chǎn)生的磁場(chǎng)H2反作用于線圈，使線圈視在阻抗發(fā)生變化。因此，線圈阻抗的變化就反映了被測(cè)體的物理化學(xué)性質(zhì)變化的情況[7?11]。

圖1 渦流檢測(cè)原理

由被測(cè)導(dǎo)體2的影響使得線圈視在阻抗產(chǎn)生的變化可以用下式表示：

[Z=R1+jX1+X2MR22+X22R2+j-X2MR22+X22X2] （1）

式中：R1為檢測(cè)線圈直流電阻；X1為檢測(cè)線圈空載狀態(tài)時(shí)的感抗；R2為渦流環(huán)的等效電阻；X2為渦流環(huán)的等效感抗，XM為線圈與渦流環(huán)之間的互感抗。R2和X2引起的附加項(xiàng)反映了被測(cè)導(dǎo)體上的渦流場(chǎng)對(duì)檢測(cè)線圈的影響。通過(guò)對(duì)線圈信號(hào)的測(cè)量和處理，就可以知道被測(cè)導(dǎo)體在結(jié)構(gòu)和材質(zhì)上的變化。

2 檢測(cè)系統(tǒng)總體結(jié)構(gòu)與電路設(shè)計(jì)

檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖如圖2所示。系統(tǒng)包括渦流檢測(cè)傳感器和上位機(jī)。其中渦流檢測(cè)傳感器包含了正交信號(hào)源、平衡電橋、寬帶放大、相位校正、A/D轉(zhuǎn)換與數(shù)據(jù)上傳、溫度檢測(cè)、鑒相器和濾波等模塊。

圖2 檢測(cè)系統(tǒng)框圖

該系統(tǒng)采用68013單片機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)采集和初步判斷，對(duì)于不合乎要求的硬幣進(jìn)行剔除。同時(shí)將每次檢測(cè)結(jié)果通過(guò)USB接口傳送到上位機(jī)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，以實(shí)現(xiàn)對(duì)硬幣質(zhì)量的掌控[6]。其中關(guān)鍵性電路的設(shè)計(jì)如下所述。

2.1 相敏檢測(cè)電路設(shè)計(jì)

在本系統(tǒng)中，采用模擬乘法器作為相敏檢測(cè)器來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)渦流信號(hào)實(shí)虛部的分離，同時(shí)獲得實(shí)虛部的幅度大小。當(dāng)被檢波信號(hào)為[xt=Vscosω0t+θ]，參考信號(hào)為[rt=Vrcosω0t+?]時(shí)，乘法器得到輸出為：

[Vp=xt?rt=Vscosω0t+θ?Vrcosω0t+? =0.5VsVrcosθ-?+0.5VsVrcos2ω0+θ+?] （2）

輸出中包含有反映相位信息的低頻信號(hào)分量和頻率為激勵(lì)源兩倍的高頻信號(hào)分量。在本系統(tǒng)中，反映相位信息的被測(cè)量的變動(dòng)頻率小于20 Hz，因此采用三階低通濾波器就能有效地將高頻分量去掉，得到有用信號(hào)如下式所述：

[Vo=0.5VsVrcosθ-?] （3）

可以看出輸出信號(hào)是Vr和θ的函數(shù)。當(dāng)θ=?時(shí)，輸出最大值Vr；在實(shí)際應(yīng)用時(shí)，兩路參考信號(hào)的?分別為0和90°，幅度[Vr=0.5]，此時(shí)Vo分別為[Vo=0.25Vscosθ]和[Vo=0.25Vssinθ]，從而實(shí)現(xiàn)了對(duì)復(fù)阻抗變化量的正交分解。本系統(tǒng)采用兩片模擬乘法器AD835構(gòu)成兩個(gè)相敏檢波器，在10 MHz以下，該乘法器具有理想的各種特性，器件本身產(chǎn)生的相移可以忽略不計(jì)。圖3給出了相敏檢測(cè)電路中的低通濾波器的元件參數(shù)。

圖3 相敏檢測(cè)電路中的低通濾波器

2.2 正交信號(hào)源的設(shè)計(jì)

對(duì)于相敏檢測(cè)，當(dāng)信號(hào)源的相位存在抖動(dòng)時(shí)，會(huì)給檢測(cè)結(jié)果帶來(lái)很大的誤差。在采用相關(guān)技術(shù)的渦流檢測(cè)系統(tǒng)中，必須采用諧波失真小，相位噪聲小、頻率、幅值與相位極其穩(wěn)定的激勵(lì)信號(hào)。直接數(shù)字頻率合成（DDS ）信號(hào)源具有頻率、相位穩(wěn)定性好、易于編程控制的有點(diǎn)，因此采用DDS產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)[11]。

本文采用DDS芯片AD9854產(chǎn)生DDS信號(hào)，兩路輸出之間的相位差固定為90°，頻率為152 kHz，精度為12位。兩路信號(hào)均作相敏檢測(cè)時(shí)的參考信號(hào)，其中一路信號(hào)經(jīng)過(guò)功率放大后用于激勵(lì)交流電橋。AD9854有串行和并行接口兩種編程方式可以選擇，此處將S/P SELECT（Pin70）引腳接高電平，選擇并行編程方式。采用并行接口方式，要使AD9854能夠產(chǎn)生雙路正交的正弦信號(hào)，各口線定義分別為：

A5～A0為6位并行地址口；D7～D0為8位并行數(shù)據(jù)如口；WR為并行模式下寫(xiě)控制端；RESET為復(fù)位端。S/P SELECT（Pin70），編程模式選擇口。REFCLK，時(shí)鐘輸入端，本電路中時(shí)鐘頻率f0=20 MHz。

AD8954與單片機(jī)的接口電路如圖4所示，其中：DAC Rset引腳用于設(shè)定AD9854的滿幅輸出電流。輸出電流幅值取Io=[39.93Rset]，單位為A。本設(shè)計(jì)中，電阻Rset的阻值為3.9 kΩ，這樣AD9854的滿幅輸出電流便約為10 mA。

AD9854的輸出引腳采用IOUT1，IOUT2，在這些引腳各接上50 kΩ，將電流輸出轉(zhuǎn)化成電壓輸出，由于這些引腳輸出電流峰峰值為10 mA，這樣AD9854的輸出電壓峰峰值為0.5 V。另外，IOUT1和IOUT2輸出電流的相位差為90° ， IOUTA與IOUTIB輸出電流相位差為180°，IOUT2與IOUT2B輸出電流相位差為180°。

以下是單片機(jī)向AD9854寫(xiě)入152 kHz頻率控制字的程序：

unsigned char sigFreq[]={0x01， 0x2a， 0x30，0x55， 0x32， 0x61 } ； //信號(hào)頻率控制字

在本檢測(cè)系統(tǒng)中，信號(hào)源輸出信號(hào)的幅度對(duì)于檢測(cè)結(jié)果也至關(guān)重要，為此引入幅度自動(dòng)控制環(huán)節(jié)。從信號(hào)源的輸出選取一路送入A/D，處理器61083從A/D中讀取信號(hào)源的電壓， 對(duì)其幅度進(jìn)行判別，然后通過(guò)AD7524進(jìn)行調(diào)整，此處AD7524用作程控衰減器。結(jié)合AD9854中的幅度調(diào)整，可以獲得218的調(diào)整分辨率。

2.3 雙聯(lián)對(duì)置傳感器結(jié)構(gòu)

當(dāng)硬幣接近或穿過(guò)渦流傳感器的線圈時(shí)，由于互感作用，將直接導(dǎo)致線圈的視在阻抗發(fā)生變化，這種變化直接與硬幣的結(jié)構(gòu)及相對(duì)位置有關(guān)。這些因素主要包括硬幣的材質(zhì)、外形、厚度、鍍層、花紋等。通過(guò)測(cè)量檢測(cè)線圈的視在阻抗變化量即可獲得硬幣機(jī)讀特征。

在渦流檢測(cè)線圈的輸出信號(hào)中，由檢測(cè)線圈視在阻抗變化量。引起的電壓的變化量ΔU與線圈兩端的電壓U相比要小得多，約為10-2～10-3數(shù)量級(jí)。一般需要把ΔU放大。如果同時(shí)把ΔU和U一起加人放大器的輸人端，由于ΔU和U相差很大，受放大器動(dòng)態(tài)范圍的限制，會(huì)造成放大器的輸出嚴(yán)重阻塞而得不到正確的檢測(cè)結(jié)果。解決這一問(wèn)題的方法通常采用交流電橋電路，使檢測(cè)線圈的自身輸出信號(hào)與參考線圈的輸出信號(hào)相抵消，僅僅保留并輸出電壓變化量ΔU，這樣，就能滿足放大器動(dòng)態(tài)范圍的要求，有效地把ΔU放大到所需要的程度。

其次，溫度變化對(duì)于檢測(cè)結(jié)果也有明顯的影響，渦流法檢測(cè)是建立在渦流線圈視在阻抗變化量檢測(cè)的基礎(chǔ)之上，而金屬的電導(dǎo)率不可避免的要受到溫度的影響，導(dǎo)致檢測(cè)線圈和被測(cè)體硬幣的物理參數(shù)發(fā)生變化，對(duì)于定量檢測(cè)，必然會(huì)使結(jié)果發(fā)生變化。

針對(duì)以上存在的問(wèn)題，我們采取了以下方法加以解決，如圖5所示：采用矩形對(duì)置線圈，消除了硬幣位置偏移對(duì)檢測(cè)結(jié)果帶來(lái)的影響，同時(shí)可以適用不同尺寸的幣種。L1和L2構(gòu)成一組對(duì)置線圈，L3和L4構(gòu)成一組對(duì)置線圈，4只線圈的參數(shù)必須完全一致。采用雙聯(lián)結(jié)構(gòu)，提供了兩次測(cè)量機(jī)會(huì)，通過(guò)數(shù)據(jù)分析和處理獲得更加準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果。完全對(duì)稱結(jié)構(gòu)也可以有效地抵消溫度對(duì)傳感器帶來(lái)的影響。增加溫度傳感器，對(duì)溫度變化帶來(lái)的金屬的電導(dǎo)率變化的影響通過(guò)后期處理進(jìn)行抵消，取得了良好的結(jié)果。

2.4 前置放大電路設(shè)計(jì)

交流電橋輸出的信號(hào)通常為幾毫伏到幾十毫伏，帶負(fù)載能力差，需要采用放大器進(jìn)行放大，以便于后續(xù)電路的處理。普通儀表放大器帶寬較窄，在系統(tǒng)工作的頻帶范圍內(nèi)會(huì)產(chǎn)生較大的相移。本系統(tǒng)采用三只高速運(yùn)放AD8011構(gòu)建了增益為20 dB的前置放大電路，該放大器在4 MHz時(shí)相移小于5°。圖6為前置放大的電路的原理圖。

圖5 傳感器原理圖

圖6 前置放大器

3 系統(tǒng)運(yùn)行結(jié)果與分析

對(duì)該系統(tǒng)從檢測(cè)結(jié)果的一致性、模塊自身的穩(wěn)定性、模塊工作穩(wěn)定性日推移進(jìn)行了測(cè)試，實(shí)驗(yàn)還對(duì)系統(tǒng)對(duì)于在線檢測(cè)的速度和剔幣性能進(jìn)行了檢測(cè)，結(jié)果如下：

3.1 模塊檢測(cè)穩(wěn)定性

3.1.1 單枚幣檢測(cè)值穩(wěn)定性測(cè)試

任意取5枚硬幣，分別進(jìn)行300次重復(fù)測(cè)試，計(jì)算各枚幣電磁參數(shù)的檢測(cè)誤差如表1所示。

可以發(fā)現(xiàn)，單枚幣的檢測(cè)參數(shù)在平均值的±3個(gè)數(shù)字量以內(nèi)，測(cè)試誤差L參數(shù)≤0.5%，R參數(shù)<2%，檢測(cè)重復(fù)性、穩(wěn)定性較好。

表1 單枚幣重復(fù)300次測(cè)試穩(wěn)定性

3.1.2 模塊工作穩(wěn)定性（一天中各時(shí)間段）

任意取5枚硬幣，在模塊正常運(yùn)行工作的同時(shí)，從早上10：00至下午3：00點(diǎn)分時(shí)段進(jìn)行8次測(cè)試，每次測(cè)試投幣100次，取其平均值，各枚幣的電磁參數(shù)平均值的誤差如表2所示。

表2 硬幣的電磁參數(shù)平均值的誤差

可以看出，在電磁參數(shù)檢測(cè)模塊長(zhǎng)時(shí)間工作過(guò)程中，針對(duì)同一枚幣不同時(shí)間點(diǎn)的測(cè)試誤差L參數(shù)<0.5%，R參數(shù)<2%，較單枚幣重復(fù)檢測(cè)誤差還略小，這也說(shuō)明檢測(cè)電路在長(zhǎng)時(shí)間工作過(guò)程中較為穩(wěn)定，信號(hào)漂移較小。

3.1.3 模塊工作穩(wěn)定性日推移

取20 000枚硬幣，每日進(jìn)行一次跑幣測(cè)試，將每日所有幣測(cè)試數(shù)據(jù)求平均，其中每天電磁參數(shù)檢測(cè)參數(shù)如圖6所示。從圖6可以看出，每天測(cè)試的參數(shù)值誤差在1個(gè)數(shù)字量以內(nèi)，誤差L參數(shù)<0.5%，R參數(shù)<1.5%，這說(shuō)明模塊長(zhǎng)期工作的穩(wěn)定性較好。

3.2 檢測(cè)速度

任取2萬(wàn)枚幣進(jìn)行批量檢測(cè)并計(jì)時(shí)，全部檢測(cè)完畢共費(fèi)時(shí)23 min，計(jì)算平均檢測(cè)速度達(dá)870 枚/min，檢測(cè)期間通過(guò)軟件檢測(cè)瞬時(shí)最大檢測(cè)速度達(dá)1 100 枚/min。

圖7 模塊工作穩(wěn)定性日推移圖

3.3 剔幣穩(wěn)定性

任取500枚硬幣，把軟件調(diào)至全廢模式，進(jìn)行全部剔廢測(cè)試，通過(guò)每日3次共計(jì)8天的測(cè)試，所有硬幣都被準(zhǔn)確剔除，剔幣準(zhǔn)確率為100%，沒(méi)有造成漏廢。

4 結(jié) 語(yǔ)

本文設(shè)計(jì)了完整的硬幣機(jī)讀特征檢測(cè)系統(tǒng)，采用相關(guān)檢測(cè)方法實(shí)現(xiàn)了對(duì)硬幣機(jī)讀特征檢測(cè)線圈的復(fù)阻抗變化進(jìn)行檢測(cè)。利用DDS的正交激勵(lì)信號(hào)具有波生波形良好，頻率、相位和幅值穩(wěn)定的有點(diǎn)，有效地提高了對(duì)于微弱信號(hào)檢測(cè)的靈敏度和穩(wěn)定性，從本質(zhì)上改善了對(duì)硬幣差異形成的微弱信號(hào)的捕獲能力，有利于實(shí)現(xiàn)硬幣機(jī)讀特征的在線檢測(cè)。利用雙聯(lián)對(duì)置渦流傳感器能有效地克服溫飄，有效地提高信號(hào)的動(dòng)態(tài)范圍；同時(shí)提供兩次檢測(cè)信號(hào)，通過(guò)數(shù)據(jù)處理后可以獲得更加準(zhǔn)確的結(jié)果。檢測(cè)結(jié)果表明該系統(tǒng)能夠檢測(cè)出硬幣的微小的缺陷，具有良好的穩(wěn)定性和可重復(fù)性。

致謝：該系統(tǒng)的研制過(guò)程中得到了南京造幣廠的大力協(xié)助，在此表示感謝。

參考文獻(xiàn)

[1] 徐慶，王章中.硬幣·硬幣材料·硬幣流通[J].機(jī)械制造與研究， 2000（5）：30?31.

[2] 王永立.硬幣及硬幣材料的發(fā)展[J].材料科學(xué)與工程，1997（1）：66?68.

[3] 肖圣兵.電渦流傳感器在人民幣硬幣識(shí)別系統(tǒng)中的應(yīng)用[J].蘇州大學(xué)學(xué)報(bào)：自然科學(xué)版，1996（2）：60?63.

[4] 楊林，馮冠平.智能化自動(dòng)售貨機(jī)錢幣識(shí)別與分類系統(tǒng)的研究[J].儀表技術(shù)與傳感器，1994（3）：33?34.

[5] 彭濤，羅飛路，許軍.正交分解技術(shù)在渦流檢測(cè)中的應(yīng)用[J].計(jì)量技術(shù)，1997（4）：22?24.

[6] SEPHIN A. Feature extraction and selection for defect classification of pulsed eddy current [J]. NDT， 2008， 41： 46?476.

[7] CLAUZON T， THOLLON F， NICOLAS A. Flaws characterization with pulsed eddy currents [J]. IEEE transactions on magnetic， 1999， 35（3）： 1873?1876.

[8] YIN Wu?liang， PEYTON A J. Simultaneous measurement of distance and thickness of a thin metal plate with an electromagnetic sensor using a simplified model [J]. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement， 2004， 53（4）： 1335?1338.

[9] YIN Wu?liang， PEYTON A J. Thickness measurement of non?magnetic plates using multi?frequency eddy current sensors [J]. NDT&E International， 2007 （40）： 43?48.

[10] SAFIZADEH M S， LEPINE B A， FORSYTH D S， et a1. Time?Fequency analysis of pulsed eddy current signals [J]. Journal of non destructive evaluation， 200l， 20（2）： 73?86.

[11] 漢澤西，張海飛，王文渤，等.基于DDS技術(shù)正弦波信號(hào)發(fā)生器的設(shè)計(jì)[J].電子測(cè)試，2009（8）：65?69.

[2] 王永立.硬幣及硬幣材料的發(fā)展[J].材料科學(xué)與工程，1997（1）：66?68.

[3] 肖圣兵.電渦流傳感器在人民幣硬幣識(shí)別系統(tǒng)中的應(yīng)用[J].蘇州大學(xué)學(xué)報(bào)：自然科學(xué)版，1996（2）：60?63.

[4] 楊林，馮冠平.智能化自動(dòng)售貨機(jī)錢幣識(shí)別與分類系統(tǒng)的研究[J].儀表技術(shù)與傳感器，1994（3）：33?34.

[5] 彭濤，羅飛路，許軍.正交分解技術(shù)在渦流檢測(cè)中的應(yīng)用[J].計(jì)量技術(shù)，1997（4）：22?24.

[6] SEPHIN A. Feature extraction and selection for defect classification of pulsed eddy current [J]. NDT， 2008， 41： 46?476.

[7] CLAUZON T， THOLLON F， NICOLAS A. Flaws characterization with pulsed eddy currents [J]. IEEE transactions on magnetic， 1999， 35（3）： 1873?1876.

[8] YIN Wu?liang， PEYTON A J. Simultaneous measurement of distance and thickness of a thin metal plate with an electromagnetic sensor using a simplified model [J]. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement， 2004， 53（4）： 1335?1338.

[9] YIN Wu?liang， PEYTON A J. Thickness measurement of non?magnetic plates using multi?frequency eddy current sensors [J]. NDT&E International， 2007 （40）： 43?48.

[10] SAFIZADEH M S， LEPINE B A， FORSYTH D S， et a1. Time?Fequency analysis of pulsed eddy current signals [J]. Journal of non destructive evaluation， 200l， 20（2）： 73?86.

[11] 漢澤西，張海飛，王文渤，等.基于DDS技術(shù)正弦波信號(hào)發(fā)生器的設(shè)計(jì)[J].電子測(cè)試，2009（8）：65?69.

[2] 王永立.硬幣及硬幣材料的發(fā)展[J].材料科學(xué)與工程，1997（1）：66?68.

[3] 肖圣兵.電渦流傳感器在人民幣硬幣識(shí)別系統(tǒng)中的應(yīng)用[J].蘇州大學(xué)學(xué)報(bào)：自然科學(xué)版，1996（2）：60?63.

[4] 楊林，馮冠平.智能化自動(dòng)售貨機(jī)錢幣識(shí)別與分類系統(tǒng)的研究[J].儀表技術(shù)與傳感器，1994（3）：33?34.

[5] 彭濤，羅飛路，許軍.正交分解技術(shù)在渦流檢測(cè)中的應(yīng)用[J].計(jì)量技術(shù)，1997（4）：22?24.

[6] SEPHIN A. Feature extraction and selection for defect classification of pulsed eddy current [J]. NDT， 2008， 41： 46?476.

[7] CLAUZON T， THOLLON F， NICOLAS A. Flaws characterization with pulsed eddy currents [J]. IEEE transactions on magnetic， 1999， 35（3）： 1873?1876.

[8] YIN Wu?liang， PEYTON A J. Simultaneous measurement of distance and thickness of a thin metal plate with an electromagnetic sensor using a simplified model [J]. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement， 2004， 53（4）： 1335?1338.

[9] YIN Wu?liang， PEYTON A J. Thickness measurement of non?magnetic plates using multi?frequency eddy current sensors [J]. NDT&E International， 2007 （40）： 43?48.

[10] SAFIZADEH M S， LEPINE B A， FORSYTH D S， et a1. Time?Fequency analysis of pulsed eddy current signals [J]. Journal of non destructive evaluation， 200l， 20（2）： 73?86.

[11] 漢澤西，張海飛，王文渤，等.基于DDS技術(shù)正弦波信號(hào)發(fā)生器的設(shè)計(jì)[J].電子測(cè)試，2009（8）：65?69.