超薄Ce:YAG閃爍晶體用于高分辨X光成像

近期，中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所中科院強(qiáng)激光材料重點(diǎn)實驗室利用提拉法生長出的高品質(zhì)Ce∶YAG閃爍晶體開展了高分辨率X射線成像系統(tǒng)核心器件——閃爍體研制工作，成功制備了尺寸為φ30 mm，厚度為30～45 μm的高品質(zhì)閃爍晶體元件，并和中科院上海應(yīng)用物理研究所合作，研制基于超薄Ce∶YAG閃爍晶體的高分辨X光探測器，實現(xiàn)X光輻照條件下高分辨成像。在同等實驗條件下，與Crytur公司同類晶體對比，上海光機(jī)所研制的Ce∶YAG閃爍晶體圖像邊沿銳度較高，圖像對比度好，成像分辨率高，圖像質(zhì)量更好。該項成果將在6月22日至26日舉辦的2014年度International Workshop on Radiation Imaging Detectors (iWoRID, Italy)會議上發(fā)表。

Crytur公司是國際知名的閃爍晶體生長公司，閃爍晶體的性能一直處于國際領(lǐng)先水平，其制備的閃爍晶體探測器件在高能射線探測成像方面占據(jù)較多國際份額。Ce∶YAG是一種重要的具有優(yōu)良閃爍性能的閃爍晶體，除了高能射線探測成像應(yīng)用外，在高能物理與核物理實驗、安檢、醫(yī)療和軍事等領(lǐng)域有重要應(yīng)用。超薄Ce∶YAG閃爍晶體的研制成功標(biāo)志著上海光機(jī)所在高性能閃爍體器件研制方面已處于該領(lǐng)域領(lǐng)先水平。通過與上海應(yīng)物所等優(yōu)勢單位協(xié)同創(chuàng)新，將有望研制性能更為優(yōu)良的各類高能射線探測器。