摘 要:在經(jīng)濟快速發(fā)展的過程中,對于電力的需求越來越高,由此對電力供應(yīng)提出了更高的要求。在電力供應(yīng)的過程中,為了保證輸電的正常運行,需要進行高壓試驗。高壓試驗具有一定的危險性,文章對于高壓試驗的過程以及高壓試驗中應(yīng)該注意的事項進行了闡述,為電網(wǎng)的穩(wěn)定運行提供了有利的環(huán)境。
關(guān)鍵詞:電力系統(tǒng);高電壓試驗;問題
前言
高壓試驗是保證輸電穩(wěn)定運行的基礎(chǔ)保障,但是高壓試驗具有非常大的危險性,所以對高壓試驗在技術(shù)以及設(shè)備方面都進行了改革,將現(xiàn)代社會最先進的技術(shù)以及設(shè)備運用到高壓試驗中。在提高了高壓試驗效率以及質(zhì)量的同時,也對高壓試驗的操作人員提出了巨大的挑戰(zhàn)。因為新型設(shè)備以及新技術(shù)的應(yīng)用,需要操作人員對其性能有更好的了解,熟悉運行狀況,在試驗中能夠更好的掌控,為電網(wǎng)的穩(wěn)定運行提供基礎(chǔ)的保障。
1 高電壓試驗概述
在電力系統(tǒng)運行的過程中,是由各個部分組合而成的,其中電力設(shè)備是電力供應(yīng)的硬件條件,只有保證電力設(shè)備的正常穩(wěn)定運行,才能夠為電力的正常供應(yīng)提供基礎(chǔ)保障。為了對電力設(shè)備進行檢驗,確保其能夠在運行中正常的發(fā)揮,要對其進行高壓試驗,測試其是否具有比較穩(wěn)定的性能,是否符合電力運行的基本標(biāo)準(zhǔn)。對于設(shè)備的檢驗分為兩種,一種是在設(shè)備生產(chǎn)制造的過程中進行的檢驗,另一種是在設(shè)備運行期間進行的檢驗。在電力設(shè)備生產(chǎn)制造的過程中,操作人員會根據(jù)設(shè)備的使用環(huán)境、使用周期、在運行期間的利用率以及各項性能指標(biāo),對其進行試驗得出數(shù)據(jù),然后根據(jù)科學(xué)的指標(biāo)對其作出評判,符合標(biāo)準(zhǔn)則可以投入運行,如果不符合標(biāo)準(zhǔn)一律不得使用。對于在運行中設(shè)備進行試驗是為了檢測出設(shè)備的運行狀態(tài),對于運行期間的各項指標(biāo)進行檢測,發(fā)現(xiàn)問題及時解決。對于電力設(shè)備進行的高壓試驗,是為了保證設(shè)備在運行使用期間不會因為過電壓而導(dǎo)致設(shè)備損壞,同時也是對設(shè)備在運行中的狀態(tài)作出的檢驗,如果性能發(fā)生變化,要對其及時的維修保養(yǎng),為設(shè)備的正常運行提供基礎(chǔ)保障。
在進行試驗之前,要選擇適宜的電源,根據(jù)設(shè)備的試驗需要,進行科學(xué)合理的選擇。對于試驗中使用的各項儀器要事先做好準(zhǔn)備工作,在軟件系統(tǒng)方面要進行調(diào)試。在做好充足的準(zhǔn)備之后,要進行規(guī)范的試驗程序,在得出參數(shù)指標(biāo)之后,要進行科學(xué)的分析判斷。對于設(shè)備的使用狀況進行趨勢判斷,提前制定出預(yù)防措施,保證設(shè)備可以正常穩(wěn)定的發(fā)揮。
2 試驗時應(yīng)注意的問題
2.1 試驗電壓的問題
由試驗的經(jīng)驗可知,試驗電壓的大小和介質(zhì)的損耗因數(shù)數(shù)值是反比例關(guān)系,介質(zhì)損耗因數(shù)的數(shù)值會伴隨試驗電壓的增大而減小,之所以發(fā)生這樣的狀況主要是因為在絕緣材料中有一部分雜質(zhì),耦合電容器在多元件串聯(lián)的狀態(tài)下,連接線氧化接觸具有一定的不穩(wěn)定性,隨著試驗電壓的逐漸升高,氧化層在原本完好的情況下逐漸融化,這種現(xiàn)象的發(fā)生會引起接觸電阻的阻值變小,也就使介質(zhì)的損耗減小。在氧化層融化后,介質(zhì)損耗不會受到試驗電壓降低的影響。
有時在用雙臂電橋測量電阻時,測得的結(jié)果常常會出現(xiàn)和歷史的測量結(jié)果差距較大的現(xiàn)象。針對這種現(xiàn)象進行分析研究不難發(fā)現(xiàn),這是由于導(dǎo)線在繞組運行的過程中斷裂造成的,當(dāng)出現(xiàn)斷裂現(xiàn)象后導(dǎo)線的表面會出現(xiàn)氧化層,對試驗的電壓產(chǎn)生一定的影響,使測量的數(shù)據(jù)不同。
在測量直流電阻的試驗中,為了方便發(fā)現(xiàn)被測設(shè)備的缺陷和問題,最好使用輸出電壓低的測量儀器;在測量直流電阻和介質(zhì)損耗試驗當(dāng)中,要注意考慮清楚試驗電壓對氧化層的作用。
2.2 環(huán)境問題
在對設(shè)備進行試驗的過程中,試驗環(huán)境的溫濕度對試驗的結(jié)果有重要的影響。如果因為溫度也有所差異,那么在試驗中就會出現(xiàn)熱脹冷縮的現(xiàn)象,對于繞組的導(dǎo)體會產(chǎn)生很大的影響,由此導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。如果在濕度過大的環(huán)境中,由于水汽的原因,會對電流、電阻以及介質(zhì)的損耗等都會有所影響。所以為了保證試驗結(jié)果的準(zhǔn)確性,一方面可以控制試驗環(huán)境的溫度,保持在五度以上,或者是每次進行試驗時,都在同一溫度下進行。保證試驗環(huán)境的濕度不要太大,保證環(huán)境的溫濕度,為試驗創(chuàng)造一良好的條件。
2.3 引線的問題
在測量電容型設(shè)備的介質(zhì)損耗因數(shù)時,沒有除掉固定在引線上的氧化層就開始測量,會對測量的結(jié)果造成嚴(yán)重的影響,致使測量結(jié)果不合格,發(fā)生這樣的現(xiàn)象主要是在環(huán)境污染比較嚴(yán)重的地區(qū)比較明顯。氧化層對試驗的影響主要是其電阻過大,用萬用表對其進行測試就可知,氧化層絕緣電阻的阻值能夠達到兆歐級,相當(dāng)于多串聯(lián)了一個電阻,如果不去除氧化層,無疑增加了試驗設(shè)備的介質(zhì)損耗,明顯的影響了試驗數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,所以必須測量氧化層的絕緣電阻,檢查其是否會影響測量的結(jié)果,從而減少引線產(chǎn)生的電流泄漏,確保測量結(jié)果的真實性。
2.4 電磁干擾的問題
通常在狀態(tài)檢修工作開始以后,會進行高壓電氣設(shè)備的在線檢測,但是在檢測時,進行測量的設(shè)備和其周圍的設(shè)備都是帶電工作的,所以其他設(shè)備運行產(chǎn)生的電磁場肯定會對被測設(shè)備產(chǎn)生干擾,導(dǎo)致被測設(shè)備的相角發(fā)生偏移,使測得的數(shù)據(jù)不夠準(zhǔn)確,針對這種情況,由于在線檢測的干擾源是實時存在的,難以避免,可以從數(shù)據(jù)的縱向分析入手,將測得的數(shù)據(jù)和歷史數(shù)據(jù)展開分析對比,在綜合考慮其發(fā)展趨勢后,做出設(shè)備運行狀況的判斷。
在設(shè)備運行現(xiàn)場進行介質(zhì)損耗試驗時,被測的設(shè)備是停電試驗的,但其周邊的設(shè)備都是帶電工作,這些設(shè)備產(chǎn)生的電磁場必然會對試驗設(shè)備產(chǎn)生干擾,影響介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ測得值的真實性,所以進行試驗時要想辦法排除空間中的電磁場對設(shè)備的干擾,一般可以使用選相倒相法、分級加壓法、變頻法等,其中變頻法最為實用。
2.5 設(shè)備接地的問題
對于像耦合電容器這樣的電容性設(shè)備,如果在試驗時接地不良,很容易產(chǎn)生介質(zhì)損耗,導(dǎo)致設(shè)備的介質(zhì)損耗超出規(guī)定的指標(biāo),使獲得的試驗結(jié)果準(zhǔn)確性大大的下降,出現(xiàn)的介質(zhì)損耗隨著設(shè)備電容量的增大而增大,因此要積極的測量電容電流的強度,由測得的電流大小診斷試驗電壓是否正常。
3 結(jié)束語
在電力供應(yīng)對我國的經(jīng)濟發(fā)展有重要影響的形勢下,更應(yīng)該保證電力的穩(wěn)定供應(yīng)。在電力系統(tǒng)運行中,是由各項電力設(shè)備組成的,所以保證電力設(shè)備的穩(wěn)定運行,是電力系統(tǒng)正常工作的基礎(chǔ)保障。為測試電力設(shè)備的使用性能,要對其進行高壓試驗,以檢測出設(shè)備是否適合應(yīng)用在電力運行中。在現(xiàn)代技術(shù)如此發(fā)達的背景下,試驗人員要充分的利用先進的技術(shù)設(shè)備,提高檢測的效率和質(zhì)量,為電力系統(tǒng)的穩(wěn)定運行創(chuàng)造良好的環(huán)境。
參考文獻
[1]談瑩,周惠黎,程曄新.高壓試驗廳的接地設(shè)計[J].低壓電器,2011(24).
[2]李鵬.高壓試驗安全對策分析[J].科技資訊,2011(10).
[3]徐偉,明經(jīng)亮.電力系統(tǒng)中高壓電氣試驗的探討[J].中國新技術(shù)新產(chǎn)品,2011(18).
[4]羅曉.為電力系統(tǒng)提供優(yōu)良消防設(shè)備[J].機電新產(chǎn)品導(dǎo)報,2011(Z3).
[5]宋明軒.電力減薪之酸咸苦辣[J].大視野,2010(09).