新生兒低血糖腦損傷的臨床研究

徐 莉，韓棟光

（海南省農(nóng)墾總醫(yī)院東湖分院 兒科，海南 海口570300）

新生兒低血糖是新生兒時(shí)期常見的一種疾病，多發(fā)生于早產(chǎn)兒、巨大兒、糖尿病孕婦嬰兒等，也可由圍產(chǎn)期窒息、圍產(chǎn)期感染或者喂養(yǎng)困難等引起，由于新生兒低血糖缺乏典型的臨床癥狀和體征，使早期正確診斷受到影響，從而影響到正確治療和患兒預(yù)后。本文選擇我院新生兒低血糖癥患兒，觀察此類患兒中腦損傷病例，分析相關(guān)原因，現(xiàn)報(bào)告如下。

1 資料與方法

1.1 一般資料

選擇我院2008年5月至2012年5月新生兒低血糖患兒共105例，上述患兒中早產(chǎn)兒共13例，足月兒共92例，早產(chǎn)兒為胎齡34－36周患兒。體重最小為1 800g，最大為3 600g，平均體重為2 631±297g；其中小于胎齡兒共10例，適于胎齡兒共71例，大于胎齡兒共24例。

1.2 方法

所選新生兒均在出生后的3小時(shí)內(nèi)采用微量血糖儀以及應(yīng)用相應(yīng)試紙對其血糖進(jìn)行測定，并根據(jù)患兒具體情況進(jìn)行動態(tài)監(jiān)測。當(dāng)血糖水平低于2.2 mmol/L時(shí)可對新生兒低血糖作出診斷。上述患兒中，當(dāng)發(fā)現(xiàn)低血糖后，在1－3天內(nèi)對其進(jìn)行顱腦超聲檢查，根據(jù)患兒具體情況進(jìn)行頭顱CT或者M(jìn)RI檢查，對新生兒低血糖腦損傷作出診斷。

1.3 單純低血糖性腦損傷分度

在早期，經(jīng)顱腦超聲檢查發(fā)現(xiàn)腦結(jié)構(gòu)模糊，白質(zhì)回聲增強(qiáng)，表現(xiàn)為一過性經(jīng)過，經(jīng)過7－10天之后再次經(jīng)頭顱超聲復(fù)查，影像學(xué)檢查結(jié)果顯示恢復(fù)正常，為輕度腦損傷。除了患兒有早期相應(yīng)表現(xiàn)外，治療7－10天后進(jìn)行超聲等影像學(xué)檢查，影像學(xué)檢查結(jié)果沒有恢復(fù)正常，甚至嚴(yán)重，病情嚴(yán)重患兒的后期可發(fā)生囊腔樣改變，為重度。

1.4 觀察指標(biāo)

根據(jù)低血糖持續(xù)時(shí)間是否大于12小時(shí)、圍產(chǎn)期是否有缺氧史、是否存在感染等情況對低血糖腦損傷進(jìn)行分析。

1.5 統(tǒng)計(jì)學(xué)處理

采用統(tǒng)計(jì)學(xué)軟件SPSS14.0進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)分析，所得數(shù)據(jù)可用率表示，經(jīng)卡方檢驗(yàn)分析，P＜0.05顯示差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義。

2 結(jié)果

2.1 新生兒低血糖腦損傷發(fā)生情況

本組105例低血糖新生兒中，共有58例患兒出現(xiàn)腦損傷，發(fā)生率為55.2%。105例患兒中，有神經(jīng)系統(tǒng)癥狀表現(xiàn)患兒共26例（其中22例患兒發(fā)生腦損傷，發(fā)生率為84.6%），其余79例患兒無神經(jīng)系統(tǒng)癥狀（其中36例患兒合并有腦損傷，發(fā)生率為45.5%）。有神經(jīng)系統(tǒng)癥狀新生兒低血糖合并腦損傷發(fā)生率高于無神經(jīng)系統(tǒng)癥狀的新生兒低血糖，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P＜0.05）。

2.2 影響新生兒低血糖腦損傷相關(guān)因素分析

低血糖持續(xù)時(shí)間超過12小時(shí)的低血糖新生兒合并損傷發(fā)生率高于低血糖持續(xù)小于12小時(shí)患兒，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P＜0.05）；圍產(chǎn)期有缺氧病史的低血糖新生兒腦損傷發(fā)生率高于圍產(chǎn)期沒有缺氧病史的低血糖新生兒，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P＜0.05）；發(fā)生感染的低血糖新生兒合并腦損傷發(fā)生率高于沒有發(fā)生感染的低血糖新生兒，差異有統(tǒng)計(jì)學(xué)意義（P＜0.05）。見表1。

表1 新生兒低血糖腦損傷相關(guān)因素分析

3 討論

在新生兒腦代謝能源物質(zhì)中，葡萄糖是主要的能量物質(zhì)，由于腦組織不能對葡萄糖進(jìn)行儲存，所以需要血液來供給葡萄糖來滿足腦代謝，嚴(yán)重的低血糖會導(dǎo)致腦細(xì)胞代謝過程不能正常進(jìn)行，細(xì)胞會因?yàn)槿狈δ芰看x導(dǎo)致不可逆損傷，臨床表現(xiàn)為腦學(xué)癱瘓、認(rèn)知障礙等［1－3］。研究表明，新生兒低血糖發(fā)生率較低，多在出生后5天內(nèi)發(fā)生，大部分患兒低血糖是一過性的，但是新生兒低血糖的最大危害是合并有腦損傷［4－6］。本文結(jié)果顯示，有神經(jīng)系統(tǒng)癥狀的低血糖新生兒發(fā)生腦損傷的機(jī)會遠(yuǎn)高于沒有神經(jīng)系統(tǒng)癥狀的低血糖新生兒，所以在臨床早期診斷中，要主要低血糖新生兒臨床癥狀和體征，觀察是否有神經(jīng)系統(tǒng)癥狀出現(xiàn)。

在本文結(jié)果中，低血糖持續(xù)時(shí)間超過12小時(shí)的低血糖新生兒腦損傷發(fā)生率高于低血糖不超過12小時(shí)的新生兒，所以長時(shí)間低血糖存在，會導(dǎo)致新生兒腦發(fā)育障礙，影響腦功能。圍產(chǎn)期缺氧可引起宮內(nèi)窘迫，出生后患兒存在不同程度的缺氧，也是圍產(chǎn)期導(dǎo)致新生兒腦損傷的常見原因［7－9］，本文結(jié)果顯示圍產(chǎn)期缺氧史的低血糖新生兒腦損傷的發(fā)生率要高于圍產(chǎn)期沒有缺氧史的新生兒。再者，感染存在的低血糖新生兒腦損傷發(fā)生率高于沒有感染的新生兒，這里的感染主要是羊膜腔感染、胎盤炎癥等，可為宮內(nèi)或者產(chǎn)道感染，由于新生兒抵抗力非常低，感染的病原容易擴(kuò)散，嚴(yán)重的炎癥反應(yīng)可導(dǎo)致低血糖新生兒更容易發(fā)生腦損傷。

總之，圍產(chǎn)期發(fā)生缺氧、長時(shí)間處于低血糖狀態(tài)或發(fā)生感染均可是低血糖新生兒合并腦損傷的發(fā)生率升高，是導(dǎo)致新生兒低血糖合并腦損傷的重要危險(xiǎn)因素。

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