國奇科技USB 3.0 PHY經(jīng)LeCroy測試平臺(tái)驗(yàn)證并通過CEC專家組驗(yàn)收

2012年12月24日，無錫華大國奇科技有限公司自主研發(fā)的基于TSMC 65nm工藝節(jié)點(diǎn)的 USB3.0/2.0 Combo PHY IP核通過了中國電子信息產(chǎn)業(yè)集團(tuán)(CEC)組織的專家組的驗(yàn)收，其性能完全符合USB3.0協(xié)議的物理層標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范和USB IF(USB Implementers Forum)兼容性測試要求，且絕大多數(shù)參數(shù)大幅優(yōu)于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)指標(biāo)。目前，國奇科技正積極將此Combo PHY向SMIC 40LL工藝轉(zhuǎn)移，將于近期Tape － out。

“我們的 USB 3.0 PHY的測試驗(yàn)證采用了力科(Teledyne LeCroy)基于 SDA825Zi－A+PeRT3+QualiPHY的一整套USB3.0專業(yè)測試解決方案，該方案通過Qualify自動(dòng)化測試軟件將示波器、具有USB3.0協(xié)議使能的誤碼率測試儀PeRT3連接到一起，可實(shí)現(xiàn)對USB3.0物理層、抖動(dòng)容限等所有規(guī)范要求的項(xiàng)目進(jìn)行自動(dòng)化測量，”國奇科技總裁谷建余表示，“我們已與力科合作成立了聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室，已配有高性能示波器、誤碼測試儀、信號完整性分析儀、SATA/SAS/USB/PCIE協(xié)議分析儀等齊全的設(shè)備，能夠滿足USB3.0/2.0在內(nèi)的多種高速接口的測試、驗(yàn)證需求，這一聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室會(huì)對外開放，我們很高興能為我們的客戶、合作伙伴提供多元化的服務(wù)！”

力科(Teledyne LeCroy)的USB 3.0測試解決方案采用了新一代Zi系列高性能示波器，尤其是采用了其專門針對于USB3.0/SATA/SAS/PCIE等標(biāo)準(zhǔn)高速接口而開發(fā)的具有協(xié)議握手能力的誤碼率測試儀PeRT3，這使得USB 3.0發(fā)射機(jī)物理層測試所需要的碼型切換難題以及接收機(jī)抖動(dòng)容限測試需要的進(jìn)入Loopback環(huán)回模式難題變得非常容易。因此，力科的USB 3.0全套測試方案得到了全世界大部分USB 3.0芯片廠商、系統(tǒng)廠商的廣泛使用，是行業(yè)內(nèi)USB 3.0測試驗(yàn)證首選方案。