NIST新式顯微鏡可測量納米級磁鐵屬性

美國國家標準與技術研究院(NIST)的研究人員開發出一種新式顯微鏡——外差磁光微波顯微鏡(或稱H-MOMM)，可以測量電子自旋的群集動力。納米級磁鐵是高速低功耗的“自旋電子”計算機內存的重要組成部分，而這種內存可能很快就會取代傳統的隨機存取存儲器。

NIST 的研究人員使用H-MOMM 首次實現了對單個納米級磁鐵中的自旋弛豫(或阻尼)過程的量化。

利用這種顯微鏡，NIST 研究人員可以詳細研究單個磁鐵中自旋激化的上下波動。兩束綠色激光合并產生微波，從而激發“自旋波”，即磁振蕩。利用一束激光中的偏振光來分析這種激發模式。通過測量這種激發過程，找到電磁場與微波頻率之間的函數關系，從而可以推斷出每個納米級磁鐵中不同自旋波的阻尼。