相控陣天線遠場測試場測量方法

摘 要： 對相控陣天線的特性需要選擇合適的測試方法進行測試，為了研究相控陣天線的遠場測試，采用遠場的測試場測量，對相控陣天線的EIRP、G/T值以及方向圖等指標特性的測量方法進行了介紹和研究，并進行了波束修正與電平補償的說明，此測試方法可準確測量相控陣天線的遠場性能并應用于工程實踐。

關鍵詞： 相控陣天線； 遠場測試； EIRP； G/T； 天線方向圖

中圖分類號： TN82?34 文獻標識碼： A 文章編號： 1004?373X（2013）09?0054?03

0 引 言

隨著電磁研究的深入和電子技術的發展，天線的發展和應用已經滲透到導航、通信、電子對抗和雷達等諸多領域[1]，多波束天線可通過相控陣同時或分時地形成多個相互獨立的發射或接收波束，實現波束形狀的靈活控制和波束指向的迅速切換[2]。目前最廣泛應用的相控陣天線測試方法主要有三種：遠場法、近場法和緊縮場法[3]。每種測試方法都有各自的優缺點，如遠場測量適用于低增益、低頻天線的測量；近場測量適用于高增益、高頻、口徑全息測量[4]等，測試方法的選擇需要對各種因素進行折中考慮。本文對相控陣天線的遠場測試方法進行了論述研究，主要包括EIRP、G/T值以及方向圖等指標特性。

1 相控陣天線的遠場測試

相控陣天線的遠場測試分為測試場測量和現場測量兩種，前者按測試場地劃分為源天線高架的斜式測試場測量、等高架測試場測量、反射測試場和縮距場測量；后者指的是利用人工運動源進行測量[5]。

1.1 測試場測量

測試場測量對測試條件限制較高，如要求測試距離[R≥2D2λ]以及滿足高度要求，由地面與周圍環境引起的誤差應在測量誤差允許范圍內等。……