沃特世發布最新SYNAPT G2Si質譜儀

最先進的基于TWave離子淌度技術的高清質譜系統，科學研究的理想之選美國明尼阿波利斯 2013年6月10日沃特世公司（NYSE：WAT）今天于美國質譜年會（ASMS）上發布了最新 WatersSYNAPTG2Si 質譜系統。公司還發布了基于UNIFI軟件平臺的CCS軟件，用于分子在氣相條件下碰撞橫截面積相關研究，同時還推出了用于組學研究的TransOmics 2.0版信息學軟件，該軟件配合新的SYNAPT G2Si 質譜，在小分子領域的不同應用以及生命科學研究的“組學”領域具有獨特的優勢。

SYNAPT G2Si 質譜儀為靶向的和非靶向的LC/MS/MS分析流程帶來了第三個維度的分辨率和分離能力，能夠為研究人員提供更多的數據信息，以幫助了解更深層次的分子生物學和疾病機理，并幫助開發下一代疾病治療方法和藥物；也可以為食品及環境樣品中污染物的篩查提供新的思路。SYNAPT G2Si 整合了能力非凡的行波（TWave）離子淌度分離技術、數據采集以及信息學技術，且可用于最嚴格的氣相碰撞橫截面積（CCS）測量，因此，此系統提供的信息量和數據可信度遠遠超越了傳統的質譜技術和色譜技術。

SYNAPT G2Si質譜儀是第一款同時將氣相碰撞橫截面積（CCS）、保留時間和荷質比（m/z）三個參數作為分子的定性參數用于篩查研究，為基于數據庫的篩查研究提供了又一個穩定、可靠的定性參數。

事實證明： 基于TWave離子淌度技術的質譜技術將幫助研究實驗室獲得更好的科研成就，今年2月份的International Journal of Ion Mobility Spectrometry雜志發表了兩期TWave離子淌度技術專刊，其中包含了13篇全球頂級的科學家撰寫的科研論文。