晶片倒邊對晶體性能影響淺析
2012-12-31 00:00:00杜敏吳敬軍
科技致富向導 2012年20期
【摘 要】本文根據實踐數據，簡要分析了AT切型SMD晶片滾筒倒邊（又稱圓邊）參數與X’tal一些主要技術性能之間的相關性，探討了倒邊工序工序產品質量監控方法和通過調整倒邊參數改善部分X’tal技術指標可能。
【關鍵詞】倒邊量；晶體
【摘 要】本文根據實踐數據，簡要分析了AT切型SMD晶片滾筒倒邊（又稱圓邊）參數與X’tal一些主要技術性能之間的相關性，探討了倒邊工序工序產品質量監控方法和通過調整倒邊參數改善部分X’tal技術指標可能。
【關鍵詞】倒邊量；晶體
