高功放高壓聯鎖電路改進與測試
2012-11-19 07:17:52金華松邱冬冬劉斯亮
現代電子技術 2012年19期
金華松 邱冬冬 劉斯亮
摘要：高壓聯鎖性能的好壞直接影響設備能否正常工作。通過分析CPI高功放(HPA)的延時加高壓程序、高壓聯鎖電路和交流延時器工作原理，研究出一種新改進的高壓聯鎖電路方案和用于交流延時器的測試方法。分析闡述表明，該方案和測試方法克服了CPI高功放的高壓聯鎖方案的弊端。另外，根據分析結果設計了延時測試電路，它可對交流延時器性能參數進行定量測試。
關鍵詞：CPI; 高功放; 高壓聯鎖; 交流延時器
中圖分類號：TN913.31+334； TM133 文獻標識碼：A 文章編號：1004373X(2012)19015503
