摘要:在對石英晶片的電性能參數進行測試時,需要對被測晶片施加一個高頻掃描激勵信號。通常該激勵信號可以通過一個直接數字頻率合成器(DDS)來實現。若采用固定信號放大器放大輸出,則其低頻信號幅度將遠遠大于高頻信號幅度,而對被測晶片的激勵信號應保持在600mV左右,顯然無法通過固定增益放大器達到這一性能指標。由于信號的放大增益,要依據該信號的頻率變化而改變,因此設計采用可變增益放大器來實現。
關鍵詞:可變增益;信號放大;AD8370;AD9852
DOI: 10.3969/j.issn.1005-5517.2012.9.017