uv網格劃分對綜合孔徑成像的影響
2012-04-12 00:00:00張巖鄭犁王威
現代電子技術 2012年24期
摘要：合成孔徑陣列技術是對射電天體進行微波成像的有效手段，利用合成孔徑陣列技術對太陽進行微波成像，可以完成多微波段的太陽成像，更深層次地揭秘太陽的物理本質。在綜合孔徑成像技術中uv網格的劃分對成像質量有重要的影響，在此對uv網格的劃分進行了詳細的研究，通過在Y字排列的天線陣列中選取5天線點，對模擬射電源進行成像分析，給出了成像質量與FFT變換速度之間的解決方法，對提高合成孔徑陣列的成像質量有很大的幫助。
關鍵詞：合成孔徑； uv平面； FFT； 微波成像
中圖分類號：TN919-34文獻標識碼：A文章編號：1004-373X（2012）24-0061-03
