針對(duì)SMD晶體器件檢測(cè)的機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)
2011-12-31 00:00:00鮑麗星陳曉爭(zhēng)
電子產(chǎn)品世界 2011年7期
引言
SMD(晶體諧振器)晶體器件檢測(cè)是在晶體器件生產(chǎn)流程中一道至關(guān)重要的工序，晶體器件的所有電性能指標(biāo)經(jīng)過(guò)該道工序的檢測(cè)后，合格品即可包裝出廠。由于其是最后一道檢測(cè)工序，因此其檢測(cè)的正確率直接影響到出廠產(chǎn)品的品質(zhì)。一般來(lái)說(shuō)，在批量生產(chǎn)中同一批次的產(chǎn)品中誤測(cè)率必須小于2ppm，即一百萬(wàn)個(gè)出廠產(chǎn)品中，不能出現(xiàn)2個(gè)不合格品，否則購(gòu)買該批次產(chǎn)品的用戶就會(huì)要求退貨。
