倏然一年 更勝往昔——訪泰勒霍普森銷售總監Neil B Curtis和中國區總經理曾理

本刊記者/Reporter 譚弘穎/TAN Hongying

泰勒霍普森銷售總監Neil B Curtis和中國區總經理曾理

2015年4月21日上午，在泰勒霍普森CIMT2015的展臺上，本刊記者又見到了老朋友——泰勒霍普森中國區總經理曾理先生，同時，他還為本刊記者介紹了一位新朋友——Neil B Curtis先生，泰勒霍普森銷售總監。

曾總風采依舊，歡笑更勝。坐下細聊方知，“喜”出有因。去年曾總曾對本刊記者提到泰勒霍普森在中國的業務目標是增幅15%；很顯然，泰勒霍普森2014年在中國的目標達成。

優勢再擴

一年下來，讓我們看看泰勒霍普森都留下了哪些記錄？2014年7月，泰勒霍普森發布了全新500H系列圓度儀、全新電感系統Form Talysurf? i系列；2014年8月，泰勒霍普森在廣州計量院內舉辦了新產品發布會；2015年1月，泰勒霍普森推出Q-Link-Ultra軟件最新版本；2015年2月，推出高效率的圓度測量系統 -Surtronic R系列；2015年3月，推出全新的便攜式表面粗糙度測量儀Surtronic DUO；2015年3月，上海辦事處迎來喬遷之喜；2015年4月，推出全新的Talysurf i系列儀器……

從上面這些記錄來看，泰勒霍普森的新品推出速度之快、推出范圍之廣都令人贊嘆。然而，還有一件事不可忽略，那就是阿美特克集團2014年9月收購Luphos公司。眾所周知，泰勒霍普森是2004年進入阿美特克電子儀器集團的。阿美特克的公司成長計劃立足于4個核心戰略：精心運作、戰略收購和聯盟、拓展全球市場和新產品開發。阿美特克的全球收購讓其旗下的產品進一步從頂端提升，完成戰略補充。2014年，阿美特克的收購新聞便不斷，Teseq、Zygo、Amptek和Luphos紛紛入囊。其中，從技術層面上來說，如Luphos的成功收購，給泰勒霍普森帶來了復雜球面鏡和光學表面非接觸式測量的關鍵技術——此項技術為泰勒在計量領域中提供了更為廣泛的測量應用選擇；而從銷售角度看，則無疑又增加了泰勒霍普森的銷售網絡，團隊銷售優勢讓泰勒霍普森與對手之間的差距拉得更大。

細作深耕

與去年相比，泰勒霍普森在中國的業務進一步拓展。在擁有一個非常強大的中國團隊的基礎上，泰勒霍普森在中國的覆蓋力度已遍及西南、華南、華中、華北等地區。泰勒霍普森2014年在中國的業務目標之所以能達成，這也是一個重要原因。據介紹，其增長主要集中在汽車行業和光學行業。在汽車行業，泰勒霍普森獲通用“最佳供應商”、福特連續3期獨家采購泰勒霍普森的產品等等。而在光學行業，則是因其新品的投入應用使得這一領域的增長幅度喜人。

提及泰勒霍普森在華事業，就不得不提其與各地的科研院所組建聯合實驗室的事跡。除了之前報道過的與北京機床研究所、廣州計量檢測技術研究院的組建聯合實驗室之外，近期，泰勒霍普森還分別與廈門市計量檢定測試院、四川（國家）重大技術裝備幾何量計量站等科研院所在商談組建聯合實驗室事宜。據介紹，因為接觸時間不同，這兩個聯合實驗室的組建相關工作進度也不一樣，但都是在按計劃、如期地執行。有了這些技術平臺的助力，泰勒霍普森在華實力更勝，而合作雙方在高端檢測設備研發、技術標準制定、國內外檢測市場開發等多領域展開緊密的技術合作，又會為我國高端檢測儀器的技術發展和應用作出更大的貢獻。

關注新品

在此屆CIMT上，泰勒霍普森又來諸多新品。

Talyrond?500H系列圓度儀，該系列圓度儀有著精準的速度和位置控制功能,使得該儀器成為生產大量高精密部件測量的理想選擇。采用旋轉、垂直和水平測量基準，復制機床的移動，從而精確地仿形工件的形狀。多年超精密加工的行業經驗和FEA(有限元分析優化)設計相結合,能夠提供低噪聲和接近完美的機械執行的測量軸。此外,通過使用可追溯標準和獨家算法有效地消除了儀器的影響,進一步提高了儀器的測量能力。其測量能力更是驚人——一機多用，粗糙度、圓度、輪廓、圓柱測繪、凸輪和活塞“五合一”。

全新電感系統Form Talysurf? i系列電感式粗糙度輪廓儀，這是一款高精度測量系統，能夠同時進行表面形狀和輪廓測量，適用于汽車、軸承和齒輪等行業。該系統擁有低噪音軸和高分辨率傳感器,通過不同傳感器類型的選擇能夠為不同種類的應用提供多樣化的完整的測量選擇。值得稱道的依然是其測量結果可重復性和高超的測量能力（表面粗糙度、輪廓和3D測量）。

Talysurf PGI Matrix一鍵式全自動光學測量儀，該測量儀配有PGI技術，快速自動的測量臺以及全新、易用的軟件界面，無論是單一透鏡或是批量透鏡測量加載和程序設置都非常簡單，自動定位調整能保證高精度的測量和平衡分析，自動去除毛刺和半徑優化則能夠得到可重復的測量結果。先進的非球面分析軟件(AAU)對形狀誤差、半徑、斜率誤差和環帶深度進行即時分析，保證光學質量并節省時間。全新的X軸補償和半徑補償計算法能夠對生產儀器進行快速反饋，提高產量，并且能夠減少CNC研磨和金剛石車削的調整時間，對長時間運轉產生的溫度變化進行快速補償。

LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術（MWLI?）的干涉式掃描測量系統，專為旋轉對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設計，如非球面光學透鏡。該儀器的特點主要包括：高速測量、特殊表面的高靈活度測量（例如，拐點的輪廓或平坦的尖點），最大物體直徑可達420 mm。盡管是專為測量對稱部件而設計的，但其仍然能夠測量偏差較小的球面、非球面或者平面等自由表面部件，例如橢圓體的X射線或者光束整形元件。