光學干涉檢測在計量領域有很廣的應用。干涉檢測是以波長為基準對被檢對象進行測量比較,通過干涉條紋來反映被測對象的信息。按照傳統的方法操作,將干涉實驗儀器調整好后,只能到儀器的目鏡中觀察。而在每次測量時需要對一百甚至幾百條等傾干涉條紋進行記錄,不僅測量時間長,同時還會對眼睛造成傷害。因此,光學干涉檢測技術中對條紋的自動記錄和處理是非常重要的研究方向。
智能計算機與應用2011年6期
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