基于信息熵的電路測點優(yōu)化策略

0 引言

在電路的可測試性設計和故障診斷領域中，都將遇到測試點優(yōu)化問題。良好的測試點設計可以較小的測試時間和代價對故障進行隔離。目前，電路測點優(yōu)化問題的研究已取得了顯著成果。文獻[1]研究了基于故障字典的模擬電路測點選擇問題和優(yōu)化策略。文獻[2]研究了基于圖形搜索的離線模擬電路測點優(yōu)化問題。文獻[3]提出了一種基于可測性測度計算的模擬電路測點選擇方法。文獻[4]采用故障特征函數(shù)描述模擬電路故障字典法中的模糊集，并在此基礎上提出了基于故障隔離度的測點優(yōu)化算法。文獻[5]以相關性矩陣模型為基礎，建立了最大故障特征熵的優(yōu)化策略，但只考慮了電路各模塊故障率和各測試點測試代價都相同的情況，這在實際的電路中幾乎是不可能發(fā)生的。本文對相關性模型進行了改進，在此基礎上建立了基于信息熵的電路測點優(yōu)化策略，并通過電路實例對新的優(yōu)化策略進行了驗證。