電子設(shè)計(jì)技術(shù)和工藝的不斷發(fā)展,集成電路的邏輯和功能的復(fù)雜度的提高,對(duì)驗(yàn)證提出了更高的要求。由于投片費(fèi)用較高,所以在投片前非常需要對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行完整全面的驗(yàn)證,以減少投片后發(fā)現(xiàn)問題修改邏輯設(shè)計(jì)的風(fēng)險(xiǎn)。因此在復(fù)雜邏輯設(shè)計(jì)中,如何全面,高效,可靠的測試,成為了一個(gè)必須要面對(duì)和解決的問