低相干光源干涉特性的實驗研究

引言

近年，光纖低相干干涉測量技術在高靈敏度參量的絕對測量中得到廣泛應用，并逐漸向其他領域轉移，其中用于位置或位移量及其它可轉化為位移量的高精度測量成為一個活躍的研究領域。基于寬帶光源的特點和光纖低相干干涉技術中干涉信號圖的中心條紋位置可以被精確的測量，此項技術通常用于光纖傳感技術、光纖色散測量、膜層厚度測量、干涉定位中。在實際應用中，由于測量系統經常存在各種噪聲，嚴重影響了測量精度，所以對低相干干涉測量系統進行噪聲分析是非常必要的。本文基于維納一欣欽定理，推導出了低相干光源干涉特性的表達式，通過實驗得到了清晰的干涉條紋，驗證了與理論的一致性。同時針對實驗系統中存在的噪聲利用功率譜估計的方法對其進行PFT去噪處理。