80例HIE患兒血漿ET與其嚴重程度的相關性

新生兒缺血缺氧性腦病(Hypoxie isehemie eneephalopathy，HIE)是圍產期窘迫或出生后窒息所致腦部損傷，其病情危重、病死率高，是造成兒童傷殘的主要原因之一。文獻報道，HIE發生率為4.7％～8.9％，占新生兒死亡原因的33.5％。內皮素(ET)作為機體在嚴重缺氧、缺血等應激狀態下的一種內源性致病因子，目前日益受到重視。本研究采用放射免疫法檢測我院2001年3月～2008年3月80例HIE患兒血漿ET水平，以探討新生兒HIE血漿ET水平與其嚴重程度的相關性情況，現將結果報道如下。