基于Single-Sequence布圖規(guī)劃線長約束問題的研究
2009-01-01 00:00:00周永翔劉陳
電腦知識與技術(shù) 2009年1期
摘要：布圖規(guī)劃是VLSI設計中非常重要的步驟。Singk-Sequenc是一種非常有用的表示布圖的編碼方法。在實際的布圖規(guī)劃中，由于線長對芯片性能有較大的影響，因此為了使芯片的整體性能達到最優(yōu)，考慮線長因素，使線長盡可能短。該論文提出了在用模擬退火算法尋求最優(yōu)布圖的同時，通過對算法加以改進，考慮線長約束條件，有效地解決了布圖規(guī)劃的線長約束問題。
關鍵詞：VLSI；布圖規(guī)劃；模擬退火；Single-Sequence；線長；特征尺寸
中圖分類號：TP18 文獻標識碼：A 文章編號：1009－3044(2009)01－0247－04
