摘 要:提出了一種新型的用于LDO穩壓器的頻率補償方法,并通過動態偏置電壓緩沖器進行了電路實現。該方法提供了快速的瞬態響應,且無需芯片上頻率補償電容,提高了芯片的集成度。理論分析與仿真結果表明,LDO穩壓器在滿負載條件下的頻率穩定得到了保證。
關鍵詞:LDO線性穩壓器;LDR;頻率補償;頻率穩定
中圖分類號:TN432 文獻標識碼:B 文章編號:1004373X(2008)1515703
Pole Tracking Frequency Compensation for LDO Regulator
WANG Xihu,WU Longsheng,LIU Youbao
(Xi′an Microelectronic Technology Institute,Xi′an,710054,China)
Abstract:A novel frequency compensation technique for low-dropout linear regulator is presented.The proposed technique,called pole tracking compensation,provides fast transient response and does not need on-chip frequency compensation capacitor which helps enable higher integration.Theoretical analysis and simulation results show that the stability of LDO regulator is guarded under full load condition.
Keywords:LDO linear regulator;LDR;frequency compensation;frequency stability
1 引 言
便攜電子設備無論是由蓄電池組,還是交流市電經過整流后(或交流適配器)供電,工作過程中,電源電壓都存在變化。例如單體鋰離子電池充足電時的電壓為4.2 V,放電后的電壓為2.3 V,變化范圍很大。而各種整流器的輸出電壓不僅受市電電壓變化的影響,還受負載變化的影響。因而近年來,低壓差線性穩壓器(Low Dropout Linear Regulator)以其低成本,高電池利用率,潔凈的輸出電壓等特點,被廣泛應用于移動電話、掌上電腦等消費類電子產品,以及便攜式醫療設備和測試儀器中。
LDO穩壓器的頻率補償設計,不僅直接決定了頻率穩定性,而且對LDO穩壓器的性能參數,尤其是瞬態響應速度,有很大的影響。此外,隨著當前半導體集成電路工藝的發展,越來越多的功能電路能夠被集成于單一芯片中,而現有的LDO穩壓器頻率補償技術,對芯片上頻率補償電容的需要,大大阻礙了LDO穩壓器芯片集成度的提高和與其他功能電路的系統集成。
本文對LDO穩壓器的頻率穩定問題,和現有的頻率補償設計技術進行了理論分析。在此基礎上,提出了一種新型的頻率補償方法,并給出了電路實現途徑。通過一個采用TSMC0.18 μm混合信號半導體工藝,最大輸出電流為100 mA的LDO穩壓器設計,對該方法做出了進一步的說明。最后,結合LDO穩壓器的HSpice仿真結果,對本文提出的頻率補償方法的效果進行了討論。
2 LDO穩壓器頻率補償
LDO穩壓器的典型結構,如圖1所示。圖1中,Vref為具有良好溫度特性的電壓參考信號,Vin為不穩定的輸入電壓信號,Vo為輸出電壓信號。LDO穩壓器利用由壓差放大器、電壓緩沖器、電壓調整管Mpass和反饋網絡構成的負反饋環路,維持Vo穩定。
圖1 LDO穩壓器典型結構當環路對一定頻率的信號的相移達到-180°時,負反饋成為了正反饋,如果環路增益T仍大于單位增益,環路將產生自激振蕩,失去穩定Vo的作用,故需要頻率補償設計,來保證在相移達到-180°之前,T已衰減到單位增益以下。在單位環路增益頻率fu處,環路相移與180°的和,被稱為相位裕度θ。在θ與閉環增益Acl間存在以下關系:
|Acl(fu)|=1β*11+expj(θ-180°)(1)
其中β為反饋系數,1/β為低頻閉環增益。
由式(1)可以看到,若相位裕度小于60°,則|Acl|大于1/β,即發生過沖。過沖會導致LDO穩壓器的階躍響應呈現欠阻尼振蕩(振鈴)。因而相位裕度不僅是考察頻率穩定性的重要參數,而且對瞬態響應也有很大影響。
圖1中存在兩個低頻極點,分別為位于電壓緩沖器輸出端的極點P1,和LDO穩壓器輸出端的極點P2。P1與P2的值由電壓緩沖器的輸出等效電阻Ro1,Mpass的柵、源極電容Cgs,LDO穩壓器輸出端的等效電阻Ro2和外接電容Co決定:P1=-12π*Ro1*Cgs(2)
P2=-12π*Ro2*Co=-12π*(Vo/Io)*Co
=-Io2π*Vo*Co(3) 為保證LDO穩壓器的頻率穩定性和足夠的相位裕度,P1與P2的間距(P1/P2)應足夠大。但由式(3),P2隨著LDO穩壓器的輸出電流的增大,逐漸向高頻移動,使P1和P2的間距縮小,造成頻率穩定性變差。
傳統LDO穩壓器的頻率補償方法,如圖1所示,利用了輸出端電容Co及其等效串聯電阻Resr,產生一個左半平面(LHP)零點Z1:Z1=-12π*Resr*Co(4) 若Resr的取值使Z1與P1足夠接近,并相互抵消,則在LDO穩壓器的通帶內只有一個極點P2,環路相移不會超過-180°。但是,Resr會增加Vo在瞬態過程中的變化幅度,降低對Vin中噪聲的抑制,且對Resr取值的要求,限制了Co可選擇的類型,增大了使用難度和系統成本。此外,Resr的值還受到環境溫度、電壓和頻率的影響,所以頻率穩定性不能得到可靠的保障。
由于以上原因,當前的LDO穩壓器,多采用內部頻率補償。一類內部頻率補償技術借鑒了傳統LDO穩壓器的零、極點抵消方法,并利用前饋技術[1],或芯片內部的RC網絡[2]和電壓控制電流源[3],產生所需的零點。但是,要做到芯片內產生的零點與相應極點的完全匹配,是非常困難的。而未能相互抵消的零點和極點,會成為LDO穩壓器通帶內的零、極點對(doublet),造成Vo建立時間的增加。另一類廣泛使用的內部頻率補償為米勒頻率補償。米勒補償具有極點分離的特性,即通過跨接在Mpass柵極和漏極的米勒電容Cm,將P1推向低頻, P2推向高頻。米勒補償后,P1與P2由式(2)、式(3)變為:P1-12π*gm*Ro1*Ro2*Cm(5)
P2-gm2π*Co(6) 其中,gm為Mpass的跨導。
由式(5),欲使P1遠小于P2,則Cm會很大,電路內部對其充放電的過程造成Vo的壓擺時間tsr變長。因Co很大,由式(6),P2處于低頻,限制了增益帶寬GBW。米勒補償對tsr和GBW的影響,直接增大了LDO穩壓器的環路延時td(參看式(7))。雖然通過嵌套的米勒頻率補償方法[4]或電容倍增電路[5],能夠減小Cm,但未能根除Cm對LDO穩壓器芯片的集成度的影響。tdtsr+1/GBW(7) 針對以上問題,下節將給出一種能夠保證LDO穩壓器的高速,且無需芯片上頻率補償電容的新型頻率補償方法。
3 極點跟隨頻率補償
LDO穩壓器空載時,由式(3),P2為0 Hz(實際上,此時P2=-λ*IDMpass2π*Co,λ和IDMpass為Mpass的溝道調制系數和漏極電流),P1只需大于0 Hz,P1與P2的間距(P1/ P2)就足以保證頻率穩定性。隨著輸出電流的增大,P2向高頻移動,如果P1能夠跟隨P2的變化,則P1與P2的間距得到維持。極點跟隨的頻率補償,即是當輸出電流變化時,通過使P1跟隨P2的變化,獲得頻率穩定性的方法。
一種使P1跟隨P2變化的電路實現,可利用共集電極和共漏極電壓緩沖器的輸出電阻,分別與偏置電流和偏置電流的開方成反比的規律,根據輸出電流來動態地調整電壓緩沖器的偏置電流,使P1也受輸出電流控制。
一個采用了極點跟隨頻率補償的LDO穩壓器,如圖2所示。其中,完成頻率補償的動態偏置電壓緩沖器,包括了由MOS晶體管MP3,MN4和運算放大器OPA組成的輸出電流監測電路,由MN1~MN3和MP1~MP2組成的電流鏡電路,以及由電流源IB2,IB3和雙極晶體管Q3~Q6組成的電壓緩沖器。圖2 一個采用極點跟隨頻率補償的LDO穩壓器 輸出電流監測電路中的MP3與LDO穩壓器的電壓調整管Mpass的源、柵極驅動電壓相等,且由于運放OPA輸入端“虛短”特性,MP3的漏極(OPA正向輸入端)電壓等于Mpass的漏極(OPA負向輸入端)電壓,故有:IDMP3IoIDMP3IDMpass=(W/L)MP3(W/L)Mpass=K1(8) 電流鏡電路的輸入電流IDMP3與輸出電流IDMP1,IDMN1,有以下關系:
IDMP1IDMP3=IDMN1IDMP3=(W/L)MN2(W/L)MN3=(W/L)MN1(W/L)MN3=K2(9)
電壓緩沖電路中,Q3~Q4和IB2~IB3為Q5~Q6提供了甲乙類輸出控制,Q3~Q6構成了一個跨導線性環(trans-conductance linear loop),因而有:ICQ3ICQ6=ICQ4ICQ5=AEQ3AEQ6=AEQ4AEQ5=K3(10)其中,AEQ3~AEQ6為Q3~Q6的發射極面積。
又因ICQ3,ICQ4分別為IB2與IDMP1,IB3與IDMN1之和,若IB2=IB3,IDMP1IB2,IDMN1IB3,則由式(8)、式(9)和式(10),有:ICQ5=ICQ6=K1K2*K3*Io=K*Io(11) 故動態偏置電壓緩沖器輸出電阻Ro1為:
Ro1=REQ5‖REQ6=12*VTICQ5=VT2*K*Io(12)
其中VT為熱電壓。
將式(12)代入式(2),有:
P1=-12π*Ro1*Cgs=-Io*Kπ*Cgs*VT(13)
對照式(3)與式(13),可以看到,P1/P2獨立于Io,故圖2中的LDO穩壓器獲得了在整個負載變化范圍內的頻率穩定性。
4 仿真結果與討論
采用TSMC 0.18 μm混合信號Spice模型,和高精度仿真工具HSpice,對圖2中的LDO穩壓器進行了設計與仿真驗證。在Co=1 μF,Io=100 mA的條件下,環路增益T的幅頻與相頻響應的仿真結果如圖3所示,在單位環增益頻率內,幅頻特性與單極點系統相同,以-20 dB/dec的速度衰減,相位裕度大于80°。
圖3 LDO穩壓器環路增益的幅頻與相頻特性圖4為輸出電流Io在20 ns內由0跳變為100 mA時,LDO穩壓器輸出電壓Vo的瞬態響應。由圖4可以看到,Vo從空載到滿載的轉換時間約為0.5 μs。如此良好的瞬態響應是由于極點跟隨頻率補償具有以下優點:極點P1對P2的跟隨,減小了P1的附加相移,增加了相位裕度,則由式(1),有利于減小過沖導致的輸出電壓振鈴現象;無需引入零點,因而避免了零、極點對造成的輸出電壓穩定時間的增加;對帶寬沒有限制,且無需米勒頻率補償電容,則由式(7),有利于減小環路延時。此外,電壓緩沖器中的甲乙類推拉結構和動態電流,對提高響應速度也有很大幫助。
圖4 LDO穩壓器瞬態響應最后需要說明的是,對輸出電壓Vo進行的直流掃描結果表明,Vo在整個輸出電流范圍內的變化較大,約為4%。經分析,主要由以下因素造成:圖2中的寬帶壓差放大器的非對稱結構引入了較大的輸入失調電壓;雙極器件的基極電流,以及NPN型器件與PNP型器件參數(放大倍數等)的差異引入的誤差。通過改用對稱結構的低失調壓差放大器,并將雙極器件替換為MOS器件,可提高LDO穩壓器的精度。但是由于低失調壓差放大器引入的低頻極點,以及MOS器件的低跨導造成的P1的頻率降低,會減小相位裕度,所以應避免在壓差放大器中采用電流鏡(引入鏡極點)或共源共柵(增加節點電阻)等結構,并適當提高電壓緩沖器中器件的尺寸和偏置電流。
5 結 語
本文提出的極點跟隨的頻率補償方法,提供了LDO穩壓器良好的頻率穩定性和瞬態響應,且無需芯片上頻率補償電路,因而不僅適用于高負載變化響應速度的單芯片LDO穩壓器,在集成電源管理和片上系統(SOC)方面,也有較好的應用前景。
參 考 文 獻
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作者簡介 汪西虎 男,1975年出生,河南新鄉人,博士研究生。主要研究方向為模擬與混合信號集成電路設計。
注:本文中所涉及到的圖表、注解、公式等內容請以PDF格式閱讀原文