基于覆蓋率的功能驗(yàn)證方法
2005-04-29 00:00:00解詠梅張珩張福新
計(jì)算機(jī)應(yīng)用研究 2005年1期
摘 要：隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，驗(yàn)證已經(jīng)逐漸成為大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的主要瓶頸。首先介紹傳統(tǒng)的功能驗(yàn)證方法并剖析其優(yōu)缺點(diǎn)，然后引入傳統(tǒng)方法的一種改進(jìn)——基于覆蓋率的驗(yàn)證方法，最后介紹了基于覆蓋率的驗(yàn)證方法在一款通用微處理器功能驗(yàn)證中的實(shí)際應(yīng)用。
關(guān)鍵詞：功能驗(yàn)證；協(xié)同仿真； 自測(cè)檢驗(yàn)；基于覆蓋率的方法
中圖法分類號(hào)：TP391．9
文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A
文章編號(hào)：1001—3695(2005)01—0023—02
