半導體測試ＧＰＩＢ接口的聯合調試系統
2005-04-29 00:00:00金杰張妍
電子產品世界 2005年24期
摘 要：復雜的半導體自動測試系統如果出現GPIB接口問題將影響測試生產的效率，本文開發的牛導體自動測試GPIB接口的聯合調試系統，可以分別與測試系統和測試機進行接口調試，以幫助工程師解決在實際測試生產中年導體自動測試系統的GPIB接口問題。
關鍵字：半導體測試；自動測試系統；測試系統；測試機；GPIB；聯合調試系統
摘 要：復雜的半導體自動測試系統如果出現GPIB接口問題將影響測試生產的效率，本文開發的牛導體自動測試GPIB接口的聯合調試系統，可以分別與測試系統和測試機進行接口調試，以幫助工程師解決在實際測試生產中年導體自動測試系統的GPIB接口問題。
關鍵字：半導體測試；自動測試系統；測試系統；測試機；GPIB；聯合調試系統
