面向可復用ＩＰ核測試的ＪＴＡＧ設計
2005-04-29 00:44:03黎東濤
大眾科技 2005年1期
黎東濤
[摘要]文章提出了一種基于面向可復用IP核測試的JTAG設計方案。該設計在JTAG工業標準的基礎上，支持寄存器查看和設置、IP核程序流跟蹤、代碼覆蓋率檢查、代碼分析、IP核掃描測試等功能．
[關鍵詞]JTAG；TAP；邊界掃描；掃描鏈;IP
[中圖分類號]TN4
[文獻標識碼]A
[文章編號]1008—1151(2005)01—0045—03
黎東濤
[摘要]文章提出了一種基于面向可復用IP核測試的JTAG設計方案。該設計在JTAG工業標準的基礎上，支持寄存器查看和設置、IP核程序流跟蹤、代碼覆蓋率檢查、代碼分析、IP核掃描測試等功能．
[關鍵詞]JTAG；TAP；邊界掃描；掃描鏈;IP
[中圖分類號]TN4
[文獻標識碼]A
[文章編號]1008—1151(2005)01—0045—03
