半導體高功率量子阱激光器退火后的電噪聲
2004-04-29 00:00:00石英學等
吉林大學學報(理學版) 2004年4期
摘要：在環境溫度和工作電流下，對808nm高功率量子阱激光器進行老化實驗，發現在老化過程中一些劣質器件電噪聲譜密記呈下降趨勢，產生退火效應。本文應用初始性缺陷（高溫高能條件下所形成的缺陷）和非初始性缺陷理論，探討了器件發生退火及早期失效的原因。
關鍵詞：半導體激光器；噪聲；退火
中圖分類號：TN365文獻標識碼：A
摘要：在環境溫度和工作電流下，對808nm高功率量子阱激光器進行老化實驗，發現在老化過程中一些劣質器件電噪聲譜密記呈下降趨勢，產生退火效應。本文應用初始性缺陷（高溫高能條件下所形成的缺陷）和非初始性缺陷理論，探討了器件發生退火及早期失效的原因。
關鍵詞：半導體激光器；噪聲；退火
中圖分類號：TN365文獻標識碼：A
