采用光耦的開關(guān)電源檢修技巧探討（上）
2004-04-29 00:44:03孫德印孫鐵強(qiáng)
電子世界 2004年7期
孫德印 孫鐵強(qiáng)
由于光耦在開關(guān)電源中的應(yīng)用，使開關(guān)電源的取樣電路由開關(guān)變壓器的初級發(fā)展到開關(guān)變壓器的次級，取樣點(diǎn)由單獨(dú)設(shè)立取樣整流濾波電路改為直接從開關(guān)電源的輸出+B電壓取樣，使取樣電路不但提取開關(guān)電源輸出電壓的高低，還可跟隨由負(fù)載電流變化引起的+B電壓變化，使開關(guān)電源輸出電壓更加穩(wěn)定。由于光耦是靠光的傳遞將發(fā)光部分的信息傳遞給接收部分的，既進(jìn)行信息傳遞，又將開關(guān)變壓器的初級和次級電位隔離，其發(fā)光部分和接收部分沒有共同的接地點(diǎn)，這給使用電壓和電阻測量判斷故障帶來一定的難度。
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