
2021年3期
刊物介紹
《現(xiàn)代應(yīng)用物理》(Modern Applied Physics)期刊是由西北核技術(shù)所創(chuàng)辦、西北核技術(shù)研究所和國(guó)防工業(yè)出版社聯(lián)合主辦的物理類學(xué)術(shù)期刊,2010年創(chuàng)刊,原名《應(yīng)用物理...《現(xiàn)代應(yīng)用物理》(Modern Applied Physics)期刊是由西北核技術(shù)所創(chuàng)辦、西北核技術(shù)研究所和國(guó)防工業(yè)出版社聯(lián)合主辦的物理類學(xué)術(shù)期刊,2010年創(chuàng)刊,原名《應(yīng)用物理》,2013年4月,國(guó)家新聞出版廣電總局批準(zhǔn)為正式公開出版刊物。本刊主要關(guān)注應(yīng)用物理領(lǐng)域的研究前沿和熱點(diǎn),發(fā)布研究和應(yīng)用學(xué)術(shù)成果,增進(jìn)應(yīng)用物理研究成果的國(guó)際化傳播交流,為科技工作者提供學(xué)術(shù)技術(shù)服務(wù)。本刊第一屆組委會(huì)共有69人組成,其中院士22人,本刊面向軍隊(duì)和地方科研院所,高等院校1500多家單位發(fā)行,發(fā)行量2100余冊(cè)。更多簡(jiǎn)介
現(xiàn)代應(yīng)用物理
進(jìn)展與評(píng)述
帶電粒子束、等離子體和加速器
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置的建設(shè)及調(diào)試
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置負(fù)氫離子源及低能束流傳輸線實(shí)驗(yàn)研究
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置60 MeV束流慢引出效率優(yōu)化
- 束團(tuán)相空間分布重建技術(shù)在西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置的應(yīng)用
- 基于Open XAL的西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置同步環(huán)調(diào)束軟件開發(fā)
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置分布式真空系統(tǒng)設(shè)計(jì)與建設(shè)
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置直線注入器低電平控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)與測(cè)試
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置脈沖電源控制系統(tǒng)
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置準(zhǔn)直測(cè)量與數(shù)據(jù)處理
- 西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置同步環(huán)線性光學(xué)測(cè)量與校正
- 質(zhì)子單粒子效應(yīng)試驗(yàn)束流強(qiáng)度監(jiān)測(cè)系統(tǒng)研制
輻射效應(yīng)及加固技術(shù)
- 納米SRAM質(zhì)子單粒子翻轉(zhuǎn)錯(cuò)誤率預(yù)估
- 質(zhì)子單粒子效應(yīng)數(shù)據(jù)信息系統(tǒng)設(shè)計(jì)及實(shí)現(xiàn)
- 數(shù)字信號(hào)處理器單粒子功能性瞬態(tài)故障預(yù)估方法研究
- CMOS圖像傳感器西安200 MeV質(zhì)子應(yīng)用裝置H-輻照效應(yīng)實(shí)驗(yàn)研究
- 質(zhì)子輻照下4T CMOS圖像傳感器滿阱容量退化模擬研究
- CMOS APS質(zhì)子輻照效應(yīng)實(shí)驗(yàn)
- 高能質(zhì)子輻照導(dǎo)致電荷耦合器件性能退化研究
